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1. (WO2007091129) DEVICE AND METHOD FOR TESTING A NOISE IMMUNITY CHARACTERISTIC OF ANALOG CIRCUITS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/091129    International Application No.:    PCT/IB2006/050431
Publication Date: 16.08.2007 International Filing Date: 09.02.2006
IPC:
G01R 29/26 (2006.01)
Applicants: FREESCALE SEMICONDUCTOR, INC. [US/US]; 6501 William Cannon Drive West, Austin, TX 78735 (US) (For All Designated States Except US).
SOFER, Sergey [IL/IL]; (IL) (For US Only).
FEFER, Yehim - Haim [IL/IL]; (IL) (For US Only).
NEIMAN, Valery [IL/IL]; (IL) (For US Only)
Inventors: SOFER, Sergey; (IL).
FEFER, Yehim - Haim; (IL).
NEIMAN, Valery; (IL)
Priority Data:
Title (EN) DEVICE AND METHOD FOR TESTING A NOISE IMMUNITY CHARACTERISTIC OF ANALOG CIRCUITS
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ PERMETTANT DE TESTER UNE CARACTÉRISTIQUE D'IMMUNITÉ AU BRUIT DE CIRCUITS ANALOGIQUES
Abstract: front page image
(EN)A method (100) for testing a noise immunity characteristic of an analog circuit of an integrated circuit. The device (10) includes: an analog circuit (20), an internal stable reference signal source (30), an internal power supply module (40) connected to the analog circuit (20) and adapted to receive, via first input (42), a high level voltage supply, the device (10) is characterized by including: a signal modulator (60) that is adapted to provide, during a test period, a noisy signal to a second input (44) of the internal power supply module (40); whereas the internal power supply module (40) is adapted to output a noisy power supply to the analog circuit (20), in response to the noisy signal; whereas device (10) is adapted to output an output signal representative of a noise immunity characteristic of the analog circuit (20) . The method (100) includes: providing (110) a high level supply voltage to a first input of an internal power supply module of an integrated circuit and receiving (210) signals from the integrated circuit representative of the performance of the analog circuit. The method is characterized by providing (170), during a test period, a noisy signal to a second input of the internal power supply module; providing (190) a noisy supply voltage to the analog circuit, by the internal power supply module, in response to the noisy signal; and evaluating (230) a noise immunity characteristic of the analog circuit in response to the received signals.
(FR)L'invention concerne un procédé (100) permettant de tester une caractéristique d'immunité au bruit d'un circuit analogique contenu dans un circuit intégré. Le dispositif (10) selon l'invention comprend : un circuit analogique (20), une source de signaux de référence stable interne (30), et un module d'alimentation en énergie interne (40) relié au circuit analogique (20) et adapté pour recevoir, par l'intermédiaire d'une première entrée (42), une tension d'alimentation de niveau haut. Le dispositif (10) selon l'invention est caractérisé en ce qu'il possède un modulateur de signaux (60), qui est adapté pour fournir, pendant une période d'essai, un signal bruité à une seconde entrée (44) du module d'alimentation en énergie interne (40), ce dernier étant adapté pour émettre une alimentation en énergie bruitée vers le circuit analogique, en réponse au signal bruité. Le dispositif (10) est adapté pour émettre un signal de sortie représentant une caractéristique d'immunité au bruit du circuit analogique (20). Le procédé (100) selon l'invention consiste : à fournir (110) une tension d'alimentation de niveau haut à une première entrée d'un module d'alimentation en énergie interne d'un circuit intégré, et à recevoir (210) des signaux du circuit intégré, lesdits signaux représentant le rendement du circuit analogique. Le procédé selon l'invention est caractérisé en ce qu'il consiste : à fournir (170), pendant une période d'essai, un signal bruité à une seconde entrée du module d'alimentation en énergie interne ; à fournir (190) une tension d'alimentation de niveau haut au circuit analogique, par l'intermédiaire du module d'alimentation en énergie interne, en réponse au signal bruité ; et à évaluer (230) une caractéristique d'immunité au bruit du circuit analogique en réponse aux signaux reçus.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: Turkish (TR)