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Pub. No.:    WO/2007/088913    International Application No.:    PCT/JP2007/051647
Publication Date: 09.08.2007 International Filing Date: 31.01.2007
G01N 27/20 (2006.01)
Applicants: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION OKAYAMA UNIVERSITY [JP/JP]; 1-1, Tsushima-Naka 1-Chome, Okayama-shi Okayama 7008530 (JP) (For All Designated States Except US).
TADA, Naoya [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: TADA, Naoya; (JP)
Agent: MATSUO, Kenichiro; 7th Floor, Shinkumi Akasaka Bldg. 10-17, Asakasa 1-chome, Chuo-ku Fukuoka-shi, Fukuoka 8100042 (JP)
Priority Data:
2006-023447 31.01.2006 JP
(JA) 損傷検出装置及び損傷検出方法
Abstract: front page image
(EN)A nondestructive examination method enabling the three-dimensional quantization with an arbitrary aspect ratio and a gradient of damage such as a crack buried in the object, a crack exposed on the surface of the object, or a thinned portion of the object. A damage detecting device enabling the detection of a crack at higher speed and a damage detecting method are disclosed. A damage detecting device and method for detecting a damage occurring in an object comprises current applying means for applying current so as to bring an examination portion of the object into an electrified state, potential difference measuring means for measuring a potential difference with a predetermined interval in the examination portion, and analyzing means for detecting the existence of a damage and its shape if any on the basis of the potential difference data collected by the potential difference measuring means. The analyzing means assumes a parameter for specifying a virtual damage and, on the basis of the potential difference data, performs computation by the maximum likelihood estimation about a double body composed of two objects with their front surfaces joined together and further about a quadruple body composed of such two double bodies with their back surfaces joined together and thereby computes the maximum likelihood estimate of the parameter.
(FR)La présente invention concerne un procédé d'inspection non destructeur qui permet d'effectuer une quantification tridimensionnelle avec un rapport de forme arbitraire et un gradient de dommages tels qu'une fissure cachée dans l'objet, une fissure exposée sur la surface de l'objet ou une partie amincie de l'objet. L'invention porte sur un dispositif de détection de dommages qui permet de détecter plus vite une fissure, ainsi qu'un procédé de détection de dommages. Un dispositif de détection de dommages et un procédé destiné à détecter un dommage apparaissant dans un objet comprennent : des moyens d'application de courant destinés à appliquer un courant afin de mettre sous tension une partie d'inspection de l'objet ; des moyens de mesure de différence de potentiel destinés à mesurer une différence de potentiel à un intervalle prédéterminé dans la partie d'inspection ; et des moyens d'analyse destinés à détecter l'existence d'un dommage et sa forme, le cas échéant, sur la base des données relatives à la différence de potentiel obtenues par les moyens de mesure de différence de potentiel. Les moyens d'analyse adoptent un paramètre afin de spécifier un dommage virtuel et, sur la base de données relatives à la différence de potentiel, effectuent des calculs par évaluation de la probabilité maximale d'un corps double composé de deux objets dont les surfaces avant sont jointes l'une à l'autre et par évaluation d'un corps quadruple composé de ces deux doubles corps dont les surfaces arrière sont jointes ensemble, et calculent ainsi l'estimation de la probabilité maximale du paramètre.
(JA) 被検体内に埋没したき裂、あるいは表面に露出したき裂、あるいは被検体の減肉などの損傷を、任意のアスペクト比と傾きをもつ三次元で定量化可能とする非破壊検査方法で、より高速でき裂を特定可能とした損傷検出装置及び損傷検出方法を提供する。  被検体に生じた損傷を検出する損傷検出装置及び方法であって、被検体における検査領域を所定の通電状態とするために通電する通電手段と、検査領域における所定間隔での電位差を測定する電位差測定手段と、この電位差測定手段で得られた複数の電位差データに基づいて損傷の有無及びその形状を解析する解析手段とを備え、解析手段では、仮想損傷を指定するパラメータをあらかじめ仮定し、電位差データに基づいて、被検体を表面同士で互いに重ね合わせて二重とした二重体に、さらに被検体の裏面同士を互いに重ね合わせて四重とした四重体に対して最尤推定法による演算を実行してパラメータの最尤推定値を算出する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)