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1. (WO2007088713) TEMPERATURE COMPENSATING CIRCUIT AND TESTING APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/088713    International Application No.:    PCT/JP2007/050156
Publication Date: 09.08.2007 International Filing Date: 10.01.2007
IPC:
H03K 19/003 (2006.01), H03K 17/14 (2006.01), H03K 19/00 (2006.01)
Applicants: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (For All Designated States Except US).
KUWANA, Yuji [JP/JP]; (JP) (For US Only).
UMEMURA, Yoshiharu [JP/JP]; (JP) (For US Only).
SEKINO, Takashi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: KUWANA, Yuji; (JP).
UMEMURA, Yoshiharu; (JP).
SEKINO, Takashi; (JP)
Agent: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1631105 (JP)
Priority Data:
11/343900 31.01.2006 US
Title (EN) TEMPERATURE COMPENSATING CIRCUIT AND TESTING APPARATUS
(FR) CIRCUIT DE COMPENSATION DE TEMPÉRATURE ET APPAREIL DE TEST
(JA) 温度補償回路および試験装置
Abstract: front page image
(EN)Switching timing shift due to a temperature change of a switching element in a logical circuit is efficiently compensated. A temperature compensating circuit compensates the switching timing shift due the temperature change of the switching element in the logical circuit. The temperature compensating circuit is provided with a temperature detecting section for detecting a value which corresponds to the temperature of the switching element, and a correcting section for correcting the voltage of a logical signal inputted to the logical circuit from the prior circuit so as to reduce the switching timing shift due to the temperature change of the switching element, based on the value which corresponds to the temperature.
(FR)L'invention concerne la compensation efficace d'un décalage de séquencement de commutation dû à une modification de température d'un élément de commutation dans un circuit logique. Un circuit de compensation de température compense le décalage de séquencement de commutation dû à la modification de température de l'élément de commutation dans le circuit logique. Le circuit de compensation de température est muni d'une section de détection de température permettant de détecter une valeur qui correspond à la température de l'élément de commutation, ainsi que d'une section de correction permettant de corriger la tension d'un signal logique appliqué en entrée au circuit logique à partir du circuit précédent, de façon à réduire le décalage de séquencement de commutation dû à la modification de température de l'élément de commutation, sur la base de la valeur qui correspond à la température.
(JA) 論理回路が有するスイッチング素子の温度変化によるスイッチングタイミングのずれを効率的に補償する。論理回路が有するスイッチング素子の温度変化によるスイッチングタイミングのずれを補償する温度補償回路であって、スイッチング素子の温度に対応する値を検出する温度検出部と、温度に対応する値に基づき、スイッチング素子の温度変化によるスイッチングタイミングのずれを削減する方向に、前段回路から論理回路に入力される論理信号の電圧を補正する補正部とを備える温度補償回路を提供する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)