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1. (WO2007083968) TEST HANDLER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/083968    International Application No.:    PCT/KR2007/000371
Publication Date: 26.07.2007 International Filing Date: 22.01.2007
IPC:
H01L 21/677 (2006.01)
Applicants: TECHWING CO., LTD. [KR/KR]; 401-81, 86 and 87, Cheonggye-ri, Dongtan-myeon, Hwaseong-si, Gyeonggi-do 445-811 (KR) (For All Designated States Except US).
SHIM, Jae Gyun [KR/KR]; (KR) (For US Only).
NA, Yun Sung [KR/KR]; (KR) (For US Only).
JEON, In Gu [KR/KR]; (KR) (For US Only).
KU, Tae Hung [KR/KR]; (KR) (For US Only).
KIM, Dong Han [KR/KR]; (KR) (For US Only)
Inventors: SHIM, Jae Gyun; (KR).
NA, Yun Sung; (KR).
JEON, In Gu; (KR).
KU, Tae Hung; (KR).
KIM, Dong Han; (KR)
Agent: JANG, Seong Ku; 19th Fl., Trust Tower, 275-7, Yangjae-dong, Seocho-gu, Seoul 137-130 (KR)
Priority Data:
10-2006-0006842 23.01.2006 KR
Title (EN) TEST HANDLER
(FR) DISPOSITIF DE MANIPULATION POUR TEST
Abstract: front page image
(EN)A test handler includes a loading unit for loading semiconductor devices from customer trays onto a test tray; a test chamber for performing a test for the semiconductor devices loaded on the test tray; a pushing unit having at least one pushing member for pushing the test tray located in the test chamber to be tested, and a press unit for operating the pushing member; a position control unit for adjusting a position of the pushing member to compensate a deviation between the pushing member and the test tray due to a thermal expansion or contraction of any one of the pushing member and the test tray; and an unloading unit for unloading the semiconductor devices loaded on the test tray onto the customer trays after a test for the semiconductor devices is completed.
(FR)L'invention concerne un dispositif de manipulation pour test comprenant une unité de chargement destinée à charger des dispositifs à semi-conducteur à partir de supports clients sur un support de test, une chambre de test destinée à réaliser un test pour les dispositifs à semi-conducteur chargés sur le support de test, une unité de poussée comportant au moins un élément de poussée destiné à pousser le support de test dans la chambre de test en vue d'un test, et une unité presse destinée à actionner l'élément de poussée, une unité de réglage de position destinée à régler une position de l'élément de poussée en vue de compenser une déviation entre l'élément de poussée et le support de test du fait d'une dilatation ou d'une contraction thermique de l'élément de poussée ou du support de test, et une unité de déchargement destinée à décharger les dispositifs à semi-conducteur chargés sur le support de test sur les supports clients après la réalisation d'un test pour ces dispositifs à semi-conducteur.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)