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1. (WO2007083691) OPTICAL ANALYZER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/083691    International Application No.:    PCT/JP2007/050672
Publication Date: 26.07.2007 International Filing Date: 18.01.2007
G01N 21/65 (2006.01)
Applicants: SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES, LTD. [JP/JP]; 5-33 Kitahama 4-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410041 (JP) (For All Designated States Except US).
HASEGAWA, Takemi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: HASEGAWA, Takemi; (JP)
Agent: NAKANO, Minoru; c/o Sumitomo Electric Industries, Ltd., 1-3 Shimaya 1-chome, Konohana-ku, Osaka-shi, Osaka 5540024 (JP)
Priority Data:
2006-013010 20.01.2006 JP
(JA) 光学分析装置
Abstract: front page image
(EN)An optical analyzer capable of performing analysis with excellent spatial resolution and excellent invasion depth. The optical analyzer comprises (1) a diagnostic light source section having a seed light source for emitting seed light and a quartz optical fiber into which the seed light is inputted and which generates diagnostic light of an HE11 mode and outputs it, (2) an application optical system which focuses the diagnostic light and applies it to an object to the measured, (3) a trap optical system for trapping an object light generated from the object when the object is illuminated with the diagnostic light, (4) a spectrum measuring section for receiving the object light and measuring the frequency spectrum of the object light, (5) a storage section for storing information on the frequency spectrum of a known substance, and (6) a computing section for computing the rate of concordance between the frequency spectrum of the object light and that of the known substance and analyzing the object to be measured on the basis of the computation results.
(FR)L'invention concerne un analyseur optique permettant de réaliser une analyse avec d'excellentes caractéristiques de résolution spatiale et de profondeur d'exploration. L'analyseur optique comprend (1) une section à source lumineuse de diagnostic ayant une source lumineuse germe destinée à émettre une lumière germe, et une fibre optique de quartz dans laquelle est introduite la lumière germe, générant une lumière de diagnostic en mode HE11 et émettant celle-ci; (2) un système optique d'application focalisant la lumière de diagnostic et appliquant celle-ci sur un objet à mesurer; (3) un système optique de piègeage destiné à piéger une lumière d'objet générée à partir de l'objet lorsque l'objet est éclairé par la lumière de diagnostic; (4) une section de mesure du spectre destinée à recevoir la lumière d'objet et à mesurer le spectre de fréquence de la lumière d'objet; (5) une section de stockage des informations sur le spectre de fréquence d'une substance connue; et (6) une section de calcul du taux de corrélation entre le spectre de fréquence de la lumière d'objet et celui de la substance connue, et d'analyse de l'objet destiné à être mesuré en fonction des résultats du calcul.
(JA) 空間分解能および深達度が優れた分析を行うことができる光学分析装置を提供する。  光学分析装置は、(1)種光を出力する種光源と、種光を入力して非線形光学現象により診断光をHE11モードとして発生し出力する石英系の光ファイバとを含む診断光光源部、(2)診断光を集光して測定対象物に照射する照射光学系、(3)診断光の照射に伴い測定対象物で発生する物体光を捕捉する捕捉光学系、(4)物体光を受光して該物体光の周波数スペクトルを測定するスペクトル測定部、(5)既知物質の周波数スペクトルの情報を記憶している記憶部、(6)物体光の周波数スペクトルと、既知物質の周波数スペクトルとの一致度を計算し、この計算結果に基づいて測定対象物を分析する演算部、からなる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)