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1. (WO2007082740) METHOD AND DEVICE FOR ACQUIRING CONTOUR DEVIATIONS OF A FLEXIBLE COMPONENT, TAKING INTO ACCOUNT THE COMPONENT'S OWN WEIGHT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2007/082740 International Application No.: PCT/EP2007/000392
Publication Date: 26.07.2007 International Filing Date: 17.01.2007
IPC:
G01B 7/28 (2006.01) ,G01B 21/20 (2006.01)
Applicants: SYASSEN, Freerk[DE/DE]; DE (UsOnly)
AIRBUS DEUTSCHLAND GMBH[DE/DE]; Kreetslag 10 21129 Hamburg, DE (AllExceptUS)
Inventors: SYASSEN, Freerk; DE
Agent: KOPF, Korbinian; Maiwald Patentanwalts GmbH Elisenhof Elisenstr. 3 80335 Munich, DE
Priority Data:
10 2006 002 093.617.01.2006DE
Title (EN) METHOD AND DEVICE FOR ACQUIRING CONTOUR DEVIATIONS OF A FLEXIBLE COMPONENT, TAKING INTO ACCOUNT THE COMPONENT'S OWN WEIGHT
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DES DÉVIATIONS ENTRE LE CONTOUR DÉSIRÉ ET LE CONTOUR ACTUEL D'UN COMPOSANT FLEXIBLE (12) EN PRENANT EN COMPTE SON POIDS PROPRE AU MOYEN DE PLUSIEURS CAPTEURS ET PROCÉDÉ ASSOCIÉ
Abstract: front page image
(EN) Method and device for acquiring deviations between a desired contour and an actual contour of a flexible component 12, in particular of a large-format metal sheet, taking into account the component's own weight, with a multitude of stamps 2 to 5, arranged on a base area 1 to form a stamp field 6, for accommodating the component 12 at points of support 8 to 11, wherein each stamp 2 to 5 comprises at least one force measuring sensor 18 to 21 for measuring a weight force Fm that acts at the point of support, and comprises at least one distance measuring sensor 14 to 17 for measuring a travel path Sm travelled by the stamp 2 to 5.
(FR) L'invention porte sur un dispositif de mesure des déviations entre le contour désiré et le contour actuel d'un composant flexible (12) et en particulier d'une grande tôle de métal en prenant en compte son poids propre au moyen de plusieurs capteurs (2 à 5) disposés sur une surface de la base (1) et formant un champ (6) de capteurs recevant le composant (12) sur des supports ponctuels (8 à 11), chaque capteur comprenant au moins un dynamomètre (8 à 21) de mesure de la force Fm s'exercent sur le support ponctuel et au moins un extensomètre (14 à 17) mesurant la course Sm du capteur (2 à 5). Selon l'invention, on peut calculer pour chaque support (8 à 11) au moyen d'un ordinateur (13) la force théorique Fg et la course théorique Sg à l'aide des données du composant (23), les dynamomètres (8 à 21) et les extensomètres (14 à 17) étant couplés à l'ordinateur (13) et pouvant se déplacer indépendamment les uns des autres sensiblement perpendiculairement à la surface de la base (1). La mesure des forces Fm et des courses Sm associée aux valeurs Fg et Sg déterminées par les données du composant (23) rend possible l'acquisition (corrigée) largement indépendante de la déformation du composant (12) sous l'effet de son poids et/ou si nécessaire la correction des écarts entre le contour désiré et le contour actuel du composant (12). L'invention porte en outre sur un procédé à deux variantes permettant de détecter et corriger au moyen du dispositif de l'invention tout écart du contour du composant (12).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)