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1. (WO2007078408) APPARATUS AND METHODS FOR INSPECTING A COMPOSITE STRUCTURE FOR DEFECTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2007/078408 International Application No.: PCT/US2006/042717
Publication Date: 12.07.2007 International Filing Date: 31.10.2006
IPC:
G01N 21/88 (2006.01)
Applicants: ENGELBART, Roger, W.[US/US]; US (UsOnly)
HANNEBAUM, Reed[US/US]; US (UsOnly)
POLLOCK, Tim[US/US]; US (UsOnly)
ORR, Sam[US/US]; US (UsOnly)
RECTOR, Eric[US/US]; US (UsOnly)
PUTNAM, Jeff[US/US]; US (UsOnly)
THE BOEING COMPANY[US/US]; 100 North Riverside Plaza Chicago, IL 60606-2016, US (AllExceptUS)
Inventors: ENGELBART, Roger, W.; US
HANNEBAUM, Reed; US
POLLOCK, Tim; US
ORR, Sam; US
RECTOR, Eric; US
PUTNAM, Jeff; US
Agent: HALPERIN, Brett, L. ; THE BOEING COMPANY MC 110-SD54 P.O. Box 2515 Seal Beach, California 90740-1515, US
Priority Data:
11/264,07631.10.2005US
Title (EN) APPARATUS AND METHODS FOR INSPECTING A COMPOSITE STRUCTURE FOR DEFECTS
(FR) APPAREIL ET PROCEDES DE VERIFICATION DE LA PRESENCE DE DEFAUTS DANS UNE STRUCTURE COMPOSITE
Abstract: front page image
(EN) A system and method of inspecting material laid by a material placement machine. Light is directed onto the material in a direction essentially normal to the material to illuminate a section of the material. Laser energy is projected onto the section at an angle predetermined to reveal imperfections in the section. This system provides improved illumination for material widths exceeding six inches and is scalable for inspecting various material widths.
(FR) L'invention concerne un système et un procédé d'inspection d'un matériau déposé par une machine de placement de matériau. De la lumière est dirigée sur le matériau dans une direction sensiblement perpendiculaire au matériau de manière à éclairer une partie du matériau. De l'énergie laser est projetée sur cette partie selon un angle prédéterminé de manière à révéler les imperfections de la partie. Ce système permet un éclairage amélioré sur des largeurs de matériau qui dépassent 152 mm (six pouces) et peut être échelonné pour l'inspection de différentes largeurs de matériau.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)