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1. (WO2007075908) ATOM PROBE TEST STANDARDS AND ASSOCIATED METHODS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/075908    International Application No.:    PCT/US2006/048823
Publication Date: 05.07.2007 International Filing Date: 21.12.2006
IPC:
G01Q 10/00 (2010.01)
Applicants: IMAGO SCIENTIFIC INSTRUMENTS CORPORATION [US/US]; 5500 Nobel Drive, Madison, WI 53711 (US) (For All Designated States Except US).
ULFIG, Robert, Matthew [US/US]; (US) (For US Only).
KELLY, Thomas, F. [US/US]; (US) (For US Only).
WIENER, Scott, Albert [US/US]; (US) (For US Only).
GERSTL, Stephan, Siegfried Alexander [US/US]; (US) (For US Only).
LARSON, David, James [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: ULFIG, Robert, Matthew; (US).
KELLY, Thomas, F.; (US).
WIENER, Scott, Albert; (US).
GERSTL, Stephan, Siegfried Alexander; (US).
LARSON, David, James; (US)
Agent: SEELEY, Tim, R.; PERKINS COIE LLP, P.o.box 1247, Seattle, WA 98111-1247 (US)
Priority Data:
60/753,929 23.12.2005 US
Title (EN) ATOM PROBE TEST STANDARDS AND ASSOCIATED METHODS
(FR) ETALONS D'ESSAI DE SONDAGE ATOMIQUE ET PROCEDES ASSOCIES
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to atom probe test standards and associated methods, including methods using the test standard to calibrate an atom probe process. One aspect of the invention is directed toward an atom probe method that includes determining a characteristic associated with (a) an atom probe process, (b) a specimen, or (c) both (a) and (b) based on a comparison of data produced by an evaporation of a portion of a test standard to one or more expected results. Other aspects are directed toward determining whether (a) a characteristic associated with a test standard has changed from a first state to a second state based on a comparison of data produced by an evaporation of a portion of the test standard to one or more expected results, (b) a relative location of the test standard in a specimen has changed, or (c) both (a) and (b).
(FR)La présente invention concerne des étalons d'essai de sondage atomique et des procédés associés, y compris des procédés utilisant l'étalon d'essai pour étalonner un procédé de sondage atomique. Un aspect de l'invention porte sur un procédé de sondage atomique qui inclut la détermination d'une caractéristique associée à (a) un procédé de sondage atomique, (b) un échantillon, ou (c) les deux (a, b) sur la base d'une comparaison de données produites par une évaporation d'une partie d'un étalon d'essai avec un ou plusieurs résultats attendus. D'autres aspects portent sur la détermination si (a) une caractéristique associée à un étalon d'essai a changé d'un premier état à un second état sur la base d'une comparaison de données produites par une évaporation d'une partie de l'étalon d'essai avec un ou plusieurs résultats attendus, (b) un emplacement relatif de l'étalon d'essai dans un échantillon a changé, ou (c) les deux (a, b).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)