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Pub. No.:    WO/2007/075639    International Application No.:    PCT/US2006/048365
Publication Date: 05.07.2007 International Filing Date: 19.12.2006
G01S 13/00 (2006.01)
Applicants: WALLEYE TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 141 Powderhouse Blvd., Somerville, MA 02144 (US) (For All Designated States Except US).
HOLBROOK, David, S. [US/US]; (US) (For US Only).
ADAMS, Christopher, P. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: HOLBROOK, David, S.; (US).
ADAMS, Christopher, P.; (US)
Agent: MOLLAAGHABABA, Reza; NUTTER MCCLENNEN & FISH LLP, World Trade Center West, Boston, MA 02210-2604 (US)
Priority Data:
60/752,120 20.12.2005 US
Abstract: front page image
(EN)In one aspect, a measurement system is disclosed that includes a source of microwave radiation having one or more wavelengths capable of penetrating through a visibly opaque obstruction, e.g., a wall. The source can be movably positioned on one side of the obstruction for illuminating thereof. The system can further include a microwave reflecting element disposed on another side of the obstruction, where the reflecting element is capable of reflecting at least a portion of the radiation transmitted through the obstruction. A plurality of radiation sensors are positioned relative to the obstruction so as to differentially detect at least a portion of the reflected radiation transmitted through the obstruction so as to determine a position of the source relative to the reflective element.
(FR)Dans un mode de réalisation, l'invention concerne un système de mesure comportant une source de rayonnement de micro-ondes d'une ou de plusieurs longueurs d'ondes, aptes à pénétrer un obstacle opaque visible, tel qu'un mur. La source peut être placée de manière mobile sur une face de l'obstacle pour l'éclairer. Le système peut en outre comprendre un élément réfléchissant les micro-ondes disposé sur une autre face de l'obstacle, l'élément réfléchissant pouvant réfléchir au moins une partie du rayonnement traversant l'obstacle. Une pluralité de capteurs de rayonnement sont disposés relativement à l'obstacle pour détecter de manière différentielle au moins une partie du rayonnement traversant l'obstacle, afin de déterminer une position de la source relativement à l'élément réfléchissant.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)