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1. (WO2007075523) SINGLE-POINT MEASUREMENT OF HIGH-Z ADDITIVES IN SHEETS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/075523    International Application No.:    PCT/US2006/048159
Publication Date: 05.07.2007 International Filing Date: 18.12.2006
IPC:
G01N 33/34 (2006.01), G01N 23/16 (2006.01)
Applicants: HONEYWELL INTERNATIONAL INC. [US/US]; 101 Columbia Road, P.O. Box 2248, Morristown, NJ 07960 (US) (For All Designated States Except US).
HOFMAN, Gertjan, J. [NL/CA]; (CA) (For US Only).
DREES, Reena, Meijer [CA/CA]; (CA) (For US Only)
Inventors: HOFMAN, Gertjan, J.; (CA).
DREES, Reena, Meijer; (CA)
Agent: HOIRIIS, David; HONEYWELL INTERNATIONAL INC., 101 Columbia Road, P.O. Box 2245, Morristown, NJ 07960 (US)
Priority Data:
11/317,693 23.12.2005 US
Title (EN) SINGLE-POINT MEASUREMENT OF HIGH-Z ADDITIVES IN SHEETS
(FR) MESURE EN UN SEUL POINT D'ADDITIFS A NUMERO ATOMIQUE ELEVE DANS DES FEUILLES
Abstract: front page image
(EN)An apparatus, method and computer program product for determining a concentration of a high-Z material in a material sample. The method comprises steps of: receiving a material sample and subjecting the material sample to a first sensor device that is substantially ash insensitive for generating a first sensor response signal, and a second sensor device that is sensitive to presence of high-Z material and generating a second sensor response signal. Both the first and second sensor response signals from the first and second sensor devices are processed simultaneously to extract a weight of the high-Z material additive. The weight of the high-Z material additive is determined in a single scan of the material sample.
(FR)L'invention concerne un appareil, un procédé et un produit de programme informatique pour déterminer une concentration de matière à numéro atomique élevé dans un échantillon de matière. Le procédé consiste à recevoir et à soumettre un échantillon de matière à un premier dispositif capteur pratiquement insensible à la cendre pour générer un premier signal réponse de capteur, et à un deuxième dispositif capteur sensible à la présence de matière à numéro atomique élevé pour générer un deuxième signal réponse de capteur. Le premier et le deuxième signal réponse de capteur du premier et du deuxième dispositif capteur sont traités simultanément pour déterminer un poids de l'additif de matière à numéro atomique élevé. Le poids de l'additif de matière à numéro atomique élevé est déterminé par un seul balayage de l'échantillon.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)