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1. (WO2007020756) TESTER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/020756    International Application No.:    PCT/JP2006/313463
Publication Date: 22.02.2007 International Filing Date: 06.07.2006
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
Applicants: ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (For All Designated States Except US).
OKAZAKI, Tadashi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: OKAZAKI, Tadashi; (JP)
Agent: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
Priority Data:
2005-233940 12.08.2005 JP
Title (EN) TESTER
(FR) TESTEUR
(JA) 試験装置
Abstract: front page image
(EN)A tester comprises a controller for controlling the test on devices under test having the same pin arrangement and pin resources provided correspondingly to the terminals of the devices under test. Each of the pin resources has a test signal supply section for supplying a test signal to the terminal connected to the pin resource, pin allocation registers for storing the pin numbers of the device, a selection register for storing selection information representing which pin allocation register is to select, a selecting section for selecting the pin number stored in the pin allocation register specified by the selection information, a detecting section for checking whether or not the pin number specified by a write command agrees with the selected pin number if the controller gives the write command to the test signal supply section, and a write section for writing write data specified by the write command in the test signal supply section on condition that the pin numbers agree with each other.
(FR)La présente invention concerne un testeur qui comprend un contrôleur pour contrôler le test sur des périphériques testés ayant le même agencement de broches et les mêmes ressources en broches fournies de manière concordante sur les terminaux des périphériques testés. Chacune des ressources en broches possède une section d'alimentation des signaux de test pour envoyer un signal de test au terminal connecté à la ressource en broches, des registres d'affectation des broches pour mémoriser les numéros des broches du périphérique, un registre de sélection pour mémoriser les informations de sélection représentant le registre d'affectation de broche à sélectionner, une section de sélection pour sélectionner le numéro de broche mémorisé dans le registre d'affectation de broche spécifié par les informations de sélection, une section de détection pour vérifier si oui ou non le nombre de broches spécifié par une commande d'écriture s'accorde avec le nombre de broches sélectionnées si le contrôleur donne la commande d'écriture à la section d'alimentation du signal de test, ainsi qu'une section d'écriture pour écrire les données d'écriture spécifiées par la commande d'écriture dans la section d'alimentation du signal de test à condition que le nombre de broches s'accorde.
(JA) 同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。各ピンリソースは、接続先の端子に試験信号を供給する試験信号供給部と、被試験デバイスのピン番号をそれぞれ記憶する複数のピン割付レジスタと、いずれのピン割付レジスタを選択するかを示す選択情報を記憶する選択レジスタと、選択情報により指定されるピン割付レジスタに記憶されたピン番号を選択する選択部と、制御装置が試験信号供給部へ書込コマンドを発行した場合に書込コマンドで指定されたピン番号が選択されたピン番号と一致するか否かを検出する検出部と、ピン番号が一致することを条件として書込コマンドで指定された書込データを試験信号供給部へ書き込む書込部とを有する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)