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1. (WO2007020251) MICROSCOPE AND METHOD FOR TOTAL INTERNAL REFLECTION-MICROSCOPY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2007/020251 International Application No.: PCT/EP2006/065276
Publication Date: 22.02.2007 International Filing Date: 11.08.2006
IPC:
G02B 21/06 (2006.01) ,G01N 21/55 (2006.01) ,G01N 21/43 (2006.01)
Applicants: HECKER, Andreas[DE/DE]; DE (UsOnly)
LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH[DE/DE]; Ernst-leitz-strasse 17-37 35578 Wetzlar, DE (AllExceptUS)
Inventors: HECKER, Andreas; DE
Agent: STAMER, Harald; Leica Microsystems GmbH Ernst-Leitz-Strasse 17-37 35578 Wetzlar, DE
Priority Data:
10 2005 038 549.412.08.2005DE
10 2006 021 996.110.05.2006DE
Title (EN) MICROSCOPE AND METHOD FOR TOTAL INTERNAL REFLECTION-MICROSCOPY
(FR) MICROSCOPE, ET PROCEDE POUR EFFECTUER UNE MICROSCOPIE PAR REFLEXION INTERNE TOTALE
(DE) MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR TOTALINTERNEN-REFLEXIONS-MIKROSKOPIE
Abstract: front page image
(EN) The invention relates to a microscope for total internal reflection-microscopy, comprising at least one light source (1) for evanescent illumination, optionally, for an adjusting unit (2) for the illumination light (6), and a lens (4). Illumination light (6) and also detection light (7) are guided through the lens over the illumination beam path (3) and, preferably, totally reflected illumination light (reflection light) is returned in the illumination beam path (3) to the defining surface in relation to the probe (5) or probe covering. The inventive microscope is characterised in that means for at least partially decoupling the returned reflection light (8) from the illumination beam path (3) and means for detecting the decoupled reflection light (8) are provided in the illumination beam path (3), and that quantifiable and/or qualifiable parameters of the evanescent illumination and/or the evanescent field arising in the probe are derived from the beam path (9) of the decoupled reflection light (8). The invention also relates to a corresponding method which is used to derive quantifiable and/or qualifiable parameters of the evanescent illumination and/or the evanescent field arising in the probe (5).
(FR) L'invention concerne un microscope servant à effectuer une microscopie par réflexion interne totale, comprenant au moins une source de lumière (1) destinée à assurer un éclairage évanescent, éventuellement une unité de déplacement (2) conçue pour la lumière d'éclairage (6), et un objectif (4). Selon l'invention, la lumière d'éclairage (6) ainsi que la lumière de détection (7) sont guidées le long du faisceau d'éclairage (3), à travers l'objectif (4). De préférence, la lumière d'éclairage à réflexion totale (lumière de réflexion) (8) retourne dans le faisceau d'éclairage (3), au niveau de la surface limite avec un échantillon (5) ou un élément de recouvrement d'échantillon. Le microscope selon l'invention est caractérisé en ce que des moyens conçus pour extraire, au moins partiellement, la lumière de réflexion (8) de retour contenue dans ledit faisceau d'éclairage (3), ainsi que des moyens conçus pour détecter cette lumière de réflexion (8) extraite sont prévus sur la trajectoire du faisceau d'éclairage (3). En outre, des paramètres quantitatifs et/ou qualitatifs relatifs à l'éclairage évanescent et/ou au champ évanescent généré dans l'échantillon (5) peuvent être déduits de la trajectoire (9) de la lumière de réflexion (8) extraite. La présente invention se rapporte en outre à un procédé correspondant pour déduire des paramètres quantitatifs et/ou qualitatifs relatifs à l'éclairage évanescent et/ou au champ évanescent généré dans l'échantillon (5).
(DE) Ein Mikroskop zur Totalinternen-Reflexions-Mikroskopie, mit mindestens einer Lichtquelle (1) für die evaneszente Beleuchtung, gegebenenfalls einer Verstelleinheit (2) für das Beleuchtungslicht (6) und mit einem Objektiv (4), wobei sowohl Beleuchtungslicht (6) als auch Detektionslicht (7) über den Beleuchtungsstrahlengang (3) durch das Objektiv (4) geführt werden und wobei an der Grenzfläche zu einer Probe (5) oder Probenabdeckung vorzugsweise totalreflektiertes Beleuchtungslicht (Reflexionslicht) (8) in den Beleuchtungsstrahlengang (3) zurückkehrt, ist dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang (3) Mittel zum zumindest teilweisen Auskoppeln des zurückkehrenden Reflexionslichts (8) aus dem Beleuchtungsstrahlengang (3) und Mittel zum Detektieren des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) vorgesehen sind und dass aus dem Strahlengang (9) des ausgekoppelten Reflexionslichts (8) quantifizierbare und/oder qualifizierbare Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe (5) entstehenden evaneszenten Feldes ableitbar sind. Ein entsprechendes Verfahren dient zur Ab eitung quantifizierbarer und/oder qualifizierbarer Parameter der evaneszenten Beleuchtung und/oder des in der Probe (5) entstehenden evaneszenten Feldes.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)