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1. (WO2007019053) MONOCHROMATIC X-RAY MICRO BEAM FOR TRACE ELEMENT MAPPING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/019053    International Application No.:    PCT/US2006/028890
Publication Date: 15.02.2007 International Filing Date: 26.07.2006
IPC:
G21K 1/06 (2006.01), G01N 23/223 (2006.01)
Applicants: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC. [US/US]; 15 Tech Valley Drive, East Greenbush, New York 12061 (US) (For All Designated States Except US).
CHEN, Zewu [CN/US]; (US) (For US Only).
GAO, Ning [CN/US]; (US) (For US Only).
GIBSON, Walter [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: CHEN, Zewu; (US).
GAO, Ning; (US).
GIBSON, Walter; (US)
Agent: RADIGAN, Kevin, P.; Heslin Rothenberg Farley & Mesiti, P.C., 5 Columbia Circle, Albany, New York 12203 (US)
Priority Data:
60/705,376 04.08.2005 US
Title (EN) MONOCHROMATIC X-RAY MICRO BEAM FOR TRACE ELEMENT MAPPING
(FR) MICROFAISCEAU DE RAYONS X MONOCHROMATIQUE POUR CORRESPONDANCE D'ELEMENTS TRACES
Abstract: front page image
(EN)An x-ray system or method for exciting a sample under x-ray analysis, using a curved monochromating optic for directing a monochromatic x-ray beam from an x-ray source towards a first focal area. A second optic is positioned within, and receives, the monochromatic x-ray beam, and directs a focused x-ray beam towards a second focal area on the sample. A detector is positioned near the sample to collect radiation from the sample as a result of the focused x-ray beam. The curved monochromating optic produces a beam spot size at the first focal area larger than a beam spot size produced by the second optic at the second focal area, therefore, a beam spot size on the sample is thereby reduced using the second optic. Doubly-curved monochromating optics, and polycapillary optics, are disclosed as possible implementations of the optics.
(FR)L'invention concerne un système de rayons x ou un procédé d'excitation d'un échantillon lors d'une analyse à rayons x, au moyen d'un dispositif optique de monochromaticité courbé conçu pour diriger un faisceau de rayons x monochromatique d'une source de rayons x vers une première zone focale. Un second dispositif optique est positionné au sein dudit système, il permet de recevoir le faisceau de rayons x monochromatique et de diriger un faisceau de rayons x focalisé en direction d'une seconde zone focale sur l'échantillon. Un détecteur est placé à proximité de l'échantillon afin de recueillir des rayonnements émanant de l'échantillon qui résultent du faisceau de rayons x focalisé. Ce dispositif optique de monochromaticité courbé permet de produire une taille de point de faisceau au niveau de la première zone focale supérieure à celle d'un point de faisceau produit par le second dispositif optique au niveau de la seconde zone focale. De ce fait, une taille de point de faisceau sur l'échantillon est réduite, à l'aide du second dispositif optique. Cette invention a aussi pour objet des dispositifs de monochromaticité doublement courbés et des dispositifs optiques polycapillaires en tant qu'implémentations possibles des dispositifs optiques.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)