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1. (WO2007017839) TESTING OF AN INTEGRATED CIRCUIT THAT CONTAINS SECRET INFORMATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/017839    International Application No.:    PCT/IB2006/052748
Publication Date: 15.02.2007 International Filing Date: 09.08.2006
IPC:
G01R 31/317 (2006.01)
Applicants: NXP B.V. [NL/NL]; High Tech Campus 60, NL-5656 AG Eindhoven (NL) (For All Designated States Except US).
NIEUWLAND, Andre, K. [NL/NL]; (GB) (For US Only).
GOEL, Sandeepkumar [IN/NL]; (GB) (For US Only).
MARINISSEN, Erik, J. [NL/NL]; (GB) (For US Only).
VERMEULEN, Hubertus, G., H. [NL/NL]; (GB) (For US Only).
VRANKEN, Hendrikus, P., E. [NL/NL]; (GB) (For US Only)
Inventors: NIEUWLAND, Andre, K.; (GB).
GOEL, Sandeepkumar; (GB).
MARINISSEN, Erik, J.; (GB).
VERMEULEN, Hubertus, G., H.; (GB).
VRANKEN, Hendrikus, P., E.; (GB)
Agent: WHITE, Andrew; NXP Semiconductors Intellectual Property Department, Cross Oak Lane, Redhill, Surrey RH1 5HA (GB)
Priority Data:
05107366.6 10.08.2005 EP
Title (EN) TESTING OF AN INTEGRATED CIRCUIT THAT CONTAINS SECRET INFORMATION
(FR) ESSAI D'UN CIRCUIT INTEGRE CONTENANT DES INFORMATIONS CONFIDENTIELLES
Abstract: front page image
(EN)An integrated circuit (10) comprises a scan chain (14) with parallel inputs and outputs coupled to a functional circuit (12a-c). A scan chain modifying circuit (43, 47, 70a-c) is provided coupled to the scan chain (14). When testing is authorized the scan chain modifying circuit operates in a mode wherein a normal shift path is provided through the scan chain. When testing is not authorized the scan chain modifying circuit (43, 47, 70a-c) operates to effect spontaneous dynamic changes in the shift path, which dynamically vary the length of the shift path between external terminals of the integrated circuit while shifting takes place. In an embodiment the dynamical variations are controlled by a running key comparison. In other embodiments running key comparison is used to disable transfer through the scan chain and/or operation of functional circuits.
(FR)L'invention concerne un circuit intégré (10) comprenant une chaîne (14) de balayage avec des entrées et des sorties parallèles couplées à un circuit fonctionnel (12a-c). Un circuit (43, 47, 70a-c) de modification de chaîne de balayage est couplé à la chaîne (14) de balayage. Lorsque l'essai est autorisé, le circuit de modification de la chaîne de balayage est exploité dans un mode permettant une trajectoire de décalage normale dans la chaîne de balayage. Lorsque l'essai n'est pas autorisé, le circuit (43, 47, 70a-c) de modification de la chaîne de balayage permet d'effectuer des changements dynamiques dans la trajectoire de décalage, faisant varier de manière dynamique la longueur de la trajectoire de décalage entre les terminaux externes du circuit intégré lorsque se produit le décalage. Dans un mode de réalisation, les variations dynamiques sont réglées à l'aide d'une comparaison de clé d'exécution. Dans d'autres modes de réalisation, ladite comparaison est utilisée pour désactiver le transfert au moyen de la chaîne de balayage et/ou de l'exploitation des circuits fonctionnels.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)