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1. (WO2007010041) EWOD INTERFEROMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/010041    International Application No.:    PCT/EP2006/064516
Publication Date: 25.01.2007 International Filing Date: 21.07.2006
Chapter 2 Demand Filed:    25.01.2007    
IPC:
G01N 21/45 (2006.01), G01B 9/02 (2006.01)
Applicants: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE [FR/FR]; Immeuble "Le Ponant D", 25 Rue Leblanc, F-75015 Paris (FR) (For All Designated States Except US).
BOUTET, Jérôme [FR/FR]; (FR) (For US Only)
Inventors: BOUTET, Jérôme; (FR)
Agent: POULIN, Gérard; BREVATOME, 3, Rue Du Docteur Lancereaux, F-75008 Paris (FR)
Priority Data:
05 52281 22.07.2005 FR
Title (EN) EWOD INTERFEROMETER
(FR) INTERFEROMETRE EWOD
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to an interferometric device comprising means for forming first and second beams (50, 51) to be interfered, a first substrate (1) having a hydrophobic surface, first electrowetting electrodes (53) in the substrate or under the surface in order to form a volume of a first fluid from a first container and second electrowetting electrodes in the substrate or under the surface in order to position said volume, and/or deform same by means of electrowetting, in a direction (63) defined by the path of the first beam.
(FR)L'invention concerne un dispositif interf érométrique comportant des moyens pour former un premier et un deuxième faisceaux (50, 51) devant interférer, un premier substrat (1) à surface hydrophobe, des premières électrodes d' électromouillage (53) dans ce substrat ou sous cette surface pour former un volume d'un premier fluide, à partir d'un premier réservoir, et des deuxièmes électrodes d' électromouillage dans ce substrat ou sous cette surface pour positionner ce volume, et/ou le déformer par électromouillage, dans une direction (63) définie par le trajet du premier faisceau.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)