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1. (WO2007009912) METHOD FOR TESTING ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTERS
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Pub. No.: WO/2007/009912 International Application No.: PCT/EP2006/064092
Publication Date: 25.01.2007 International Filing Date: 11.07.2006
IPC:
H03M 1/10 (2006.01)
H ELECTRICITY
03
BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY
M
CODING, DECODING OR CODE CONVERSION, IN GENERAL
1
Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
10
Calibration or testing
Applicants:
POLITECNICO DI TORINO [IT/IT]; Corso Duca degli Abruzzi, 24 I-10129 Torino, IT (AllExceptUS)
REYNERI, Leonardo [IT/IT]; IT (UsOnly)
DE VENUTO, Daniela [IT/IT]; IT (UsOnly)
Inventors:
REYNERI, Leonardo; IT
DE VENUTO, Daniela; IT
Agent:
NOTARO, Giancarlo; Buzzi, Notaro & Antonielli d'Oulx S.r.l. Via Maria Vittoria 18 I-10123 Torino, IT
Priority Data:
TO2005A00049015.07.2005IT
Title (EN) METHOD FOR TESTING ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTERS
(FR) PROCEDE DE TEST DE CONVERTISSEURS ANALOGIQUE-NUMERIQUE
Abstract:
(EN) Method to characterise and/or test on-chip and/or on-board an analog-to-digital conversion device (10) that performs a conversion operation (f (.)), of the type that includes at least one input stage configured to perform an analog integration operation, and at least one digital conversion stage, and that supplies (21) an integer number (N) of samples of a digital characterisation signal (S) . According to the invention the following operations are provided for: supplying (21) said integer number (N) of samples of a digital characterisation signal (S) as input to said analog integration operation, said digital characterisation signal (S) being a multilevel rectangular wave signal with variable duty cycle (&eegr;(i)) ; - varying (211, 212, 213) said variable duty cycle (&eegr;(i)) for each sample (i) of said digital characterisation signal (S); - acquiring (22) N corresponding output samples (q(i)) from said conversion operation (f (.) ) and analysing said N corresponding output samples (q(i)) to determine parameters characterising said conversion operation (f (.) ).
(FR) L'invention porte sur un procédé qui permet de caractériser et/ou tester sur puce et/ou sur carte un dispositif de conversion analogique-numérique (10) qui effectue une opération de conversion (f(.)), du type qui comprend au moins un étage d'entrée configuré pour effectuer une opération d'intégration analogique et au moins un étage de conversion numérique, et qui fournit (21) un nombre entier (N) d'échantillons d'un signal de caractérisation numérique (S). Le procédé de l'invention consiste: à fournir (21) ledit nombre entier (N) d'échantillons d'un signal de caractérisation numérique (S) comme entrée de l'opération d'intégration analogique, le signal de caractérisation numérique (S) étant un signal d'onde rectangulaire multiniveaux à rapport cyclique variable (?(i)); à faire varier (211, 212, 213) ledit rapport cyclique variable (?(i)) pour chaque échantillon (i) dudit signal de caractérisation numérique (S); à acquérir (22) N échantillons de sortie correspondants (q(i)) à partir de l'opération de conversion (f(.)); et à analyser lesdits N échantillons de sortie correspondans (q(i)) afin de déterminer les paramètres caractérisant l'opération de conversion (f(.)).
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)