WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2007008265) APPARATUS AND METHOD FOR IN SITU AND EX SITU MEASUREMENT OF SPATIAL IMPULSE RESPONSE OF AN OPTICAL SYSTEM USING PHASE-SHIFTING POINT-DIFFRACTION INTERFEROMETRY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/008265    International Application No.:    PCT/US2006/013330
Publication Date: 18.01.2007 International Filing Date: 10.04.2006
IPC:
G01B 9/02 (2006.01)
Applicants: ZETETIC INSTITUTE [US/US]; 1665 E. 18TH STREET, Suite 206, Tucson, AZ 85719 (US) (For All Designated States Except US).
HILL, Henry, A. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: HILL, Henry, A.; (US)
Agent: PRAHL, Eric, L.; WILMER CUTLER PICKERING HALE AND DORR LLP, 60 State Street, Boston, MA 02109 (US)
Priority Data:
60/670,218 11.04.2005 US
60/711,020 24.08.2005 US
60/714,258 06.09.2005 US
60/737,102 15.11.2005 US
Title (EN) APPARATUS AND METHOD FOR IN SITU AND EX SITU MEASUREMENT OF SPATIAL IMPULSE RESPONSE OF AN OPTICAL SYSTEM USING PHASE-SHIFTING POINT-DIFFRACTION INTERFEROMETRY
(FR) APPAREIL ET PROCEDE DE MESURE IN SITU ET EX SITU DE LA REPONSE SPATIALE A UNE IMPULSION D'UN SYSTEME OPTIQUE A INTERFEROMETRE A DIFFRACTION PONCTUELLE ET DEPHASAGE
Abstract: front page image
(EN)A point diffraction interferometer for measuring properties of a spatial impulse response function, the interferometer including: a source for generating a source beam; an optical system; an optical element including a test object located in an object plane of the optical system, the test object including a diffraction point for generating from the source beam a measurement beam that passes through the optical system, wherein the optical element also generates from the source beam a reference beam that is combined with the measurement beam to generate an interference pattern in an image plane of the optical system, the interference pattern representing the spatial impulse response function of the optical system.
(FR)L'invention porte sur un interféromètre à diffraction ponctuelle mesurant les propriétés d'une fonction spatiale de réponse à une impulsion. L'interféromètre comporte: une source de faisceau source; un système optique; un élément optique comprenant un objet à tester placé dans le plan objet du système optique. L'objet à tester comporte un point de diffraction créant à partir du faisceau source un faisceau de mesure traversant le système optique. L'élément optique crée également à partir du faisceau source un faisceau de référence se combinant au faisceau de mesure pour créer dans le plan de l'image du système optique un réseau d'interférences représentant la fonction spatiale de réponse à une impulsion du système optique.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)