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Pub. No.:    WO/2007/007849    International Application No.:    PCT/JP2006/314001
Publication Date: 18.01.2007 International Filing Date: 13.07.2006
G01N 33/52 (2006.01), G01N 21/78 (2006.01), G01N 33/543 (2006.01)
Applicants: MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (For All Designated States Except US).
KAWAMATA, Ryoko; (For US Only).
TAKAHASHI, Mie; (For US Only)
Inventors: KAWAMATA, Ryoko; .
Agent: HAYASE, Kenichi; HAYASE & CO. Patent Attorneys 4F, The Sumitomo Building No.2 4-7-28, Kitahama Chuo-ku, Osaka-shi Osaka 5410041 (JP)
Priority Data:
2005-205587 14.07.2005 JP
(JA) 分析装置、及び分析方法
Abstract: front page image
(EN)In an analyzer for measuring a substance to be inspected in a liquid sample, high precision measurement is impossible because the reliability of measurement degrades because of the influence of the properties of the liquid sample and an analyzing element. The analyzer comprises a section for measuring a signal generated by a reaction of the substance to be inspected in a liquid sample, a section for collecting parameters indicative of the degree of influence on measurement error from the liquid sample developed in a channel on the analyzing element, a section for previously holding an algorithm consisting of the relation among the parameters, the signal and the true value of the substance to be inspected, and a section for computing the analysis value of the substance to be inspected from the signal according to the parameters. The computing section reads out the algorithm and determines the analysis value of the substance to be inspected in which measurement error is corrected according to the parameters collected by the parameter collecting section using the algorithm thus read out.
(FR)Selon l’invention, dans un analyseur permettant de mesurer une substance à contrôler dans un échantillon liquide, une mesure de haute précision est impossible étant donné que la fiabilité de la mesure se dégrade en raison de l’influence des propriétés de l’échantillon liquide et d’un élément d’analyse. L’analyseur comprend une section permettant de mesurer un signal généré par une réaction de la substance à contrôler dans un échantillon liquide, une section permettant de recueillir des paramètres indiquant le niveau d’influence sur une erreur de mesure à partir de l’échantillon liquide développé dans un canal sur l’élément d’analyse, une section permettant de retenir initialement un algorithme composé de la relation entre les paramètres, le signal et la valeur réelle de la substance à contrôler, et une section permettant de calculer la valeur d’analyse de la substance à contrôler à partir du signal en fonction des paramètres. La section de calcul lit l’algorithme et détermine la valeur d’analyse de la substance à contrôler dans laquelle l’erreur de mesure est corrigée en fonction des paramètres recueillis par la section de recueil des paramètres à l’aide de l’algorithme ainsi lu.
(JA)  液体試料中の被検査物質を測定する分析装置において、該液体試料および分析素子の性状の影響により測定の信頼性が低下するため、高精度な測定が不可能であった。  液体試料中の被検査物質の反応に基づくシグナルを測定するシグナル測定部と、分析素子上の流路に展開された該液体試料から測定誤差への影響度合を示すパラメータを収集するパラメータ収集部と、前記パラメータと前記シグナルと前記被検査物質の真値との関係からなるアルゴリズムをあらかじめ保持するアルゴリズム保持部と、前記パラメータに基づいて、前記シグナルより前記被検査物質の分析値を演算処理する演算処理部とを備え、前記演算処理部は、前記アルゴリズムを読み出し、該読み出したアルゴリズムを用いて、前記パラメータ収集部にて得たパラメータに基づき前記被検査物質の測定誤差を補正した該被検査物質の分析値を求める。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)