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1. (WO2007007835) ELECTRONIC COMPONENT TEST DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/007835    International Application No.:    PCT/JP2006/313962
Publication Date: 18.01.2007 International Filing Date: 13.07.2006
IPC:
G01R 31/26 (2006.01)
Applicants: ADVANTEST Corporation [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (For All Designated States Except US).
SUZUKI, Katsuhiko [JP/JP]; (JP) (For US Only).
KANEKO, Shigeki [JP/JP]; (JP) (For US Only).
IKEDA, Hiroki [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SUZUKI, Katsuhiko; (JP).
KANEKO, Shigeki; (JP).
IKEDA, Hiroki; (JP)
Agent: NISHIDE, Shingo; TOKOSHIE PATENT FIRM Nishishinjyuku KF Bldg. 704, 14-24, Nishishinjyuku 8-chome Shinjyuku-ku, Tokyo 1600023 (JP)
Priority Data:
PCT/JP2005/012947 13.07.2005 JP
Title (EN) ELECTRONIC COMPONENT TEST DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TEST DE COMPOSANT ÉLECTRONIQUE
(JA) 電子部品試験装置
Abstract: front page image
(EN)When the number of electronic components under test placed on a loader buffer unit (114) to be held in the next text by contact arms (117, 118) is less than N, among the N electronic components under test held for execution of the current test, an electronic component under test at the position of the contact arms corresponding to the position lacking in the loader buffer unit is held as it is. While holding the electronic components under test, the electronic components under test placed on the loader buffer unit for execution of the next text are held. A test is executed in this state.
(FR)Lorsque le nombre de composants électroniques sous test placés sur une unité tampon d’approvisionneur (114) devant être tenu dans le test suivant par des bras de contact (117, 118) est inférieur à N, parmi les N composants électroniques sous test tenus pour exécution du test courant, un composant électronique sous test à l’emplacement des bras de contact correspondant à la position manquant dans l’unité tampon d’approvisionneur est maintenu en l’état. Tout en tenant le composant électronique sous test, les composants électroniques sous test placés dans l’unité tampon d’approvisionneur pour exécution du test suivant sont maintenus. Un test s’effectue dans cet état.
(JA)コンタクトアーム(117,118)が次回のテストにおいて保持する予定の、ローダバッファ部(114)に載置された被試験電子部品がN個未満であるときは、今回のテストを実行するために保持しているN個の被試験電子部品のうち、ローダバッファ部において欠如している位置に相当する当該コンタクトアームの位置の被試験電子部品を、払い出さないでそのまま保持するとともに、この被試験電子部品を保持したまま、次回のテストを実行するためにローダバッファ部に載置された被試験電子部品を保持し、この状態でテストを実行する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)