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1. (WO2007005484) DEVICE AND METHOD TO REDUCE SIMULTANEOUS SWITCHING NOISE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/005484    International Application No.:    PCT/US2006/025245
Publication Date: 11.01.2007 International Filing Date: 28.06.2006
IPC:
H05K 9/00 (2006.01)
Applicants: TERADYNE, INC. [US/US]; 321 Harrison Avenue, Boston, MA 02118 (US) (For All Designated States Except US).
MESSIER, Jason [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: MESSIER, Jason; (US)
Agent: RIKKERS, David, J.; FOLEY & LARDNER LLP, 111 Huntington Avenue, Boston, MA 02199 (US)
Priority Data:
11/170,857 30.06.2005 US
Title (EN) DEVICE AND METHOD TO REDUCE SIMULTANEOUS SWITCHING NOISE
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE PERMETTANT DE REDUIRE LE BRUIT DE COMMUTATION SIMULTANEE
Abstract: front page image
(EN)By reducing a cumulative number of drivers changing values during a transition, the cumulative current change may be reduced, along with the simultaneous switching noise effects. Also, a reduced cumulative current change can also reduce voltage fluctuations in ground and/or power planes of a chip, thereby minimizing potential improper logic functions due to voltage dips or spikes. In one implementation, the method includes reading values of a first state of a first set of bits of a first word and obtaining a projected value of a second state of each of the first set of bits. If the first switching noise cumulative effect can be reduced by changing the projected values of the second state of the first set of bits, an alternate set of values having at least one value differing from the projected values of the second state is determined to reduce the first switching noise cumulative effect.
(FR)Selon cette invention, le fait de réduire un nombre cumulatif de pilotes changeant de valeurs pendant une transition permet de réduire la variation cumulative de courant de même que les effets de bruit de commutation simultanée. De même, une variation cumulative de courant réduite peut également réduire les variations de tension dans des plans de sol et/ou de puissance d'une puce, réduisant ainsi au minimum les éventuelles fonctions de logique incorrectes causées par des creux ou des pointes de tension. Dans un mode de réalisation, le procédé de cette invention consiste à lire des valeurs d'un premier état d'un premier ensemble de bits d'un premier mot et à obtenir une valeur prévisionnelle d'un deuxième état de chacun des bits du premier ensemble. Si on peut réduire le premier effet cumulatif de bruit de commutation en changeant les valeurs prévisionnelles du deuxième état du premier ensemble de bits, un autre ensemble de valeurs présentant au moins une valeur différente des valeurs prévisionnelles du deuxième état est déterminé pour que le premier effet cumulatif de bruit de commutation soit réduit.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)