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1. (WO2007005447) METHOD FOR SCAN WELDING OR MARKING THROUGH A WAVEGUIDE AND WAVEGUIDE THEREFOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/005447    International Application No.:    PCT/US2006/025124
Publication Date: 11.01.2007 International Filing Date: 28.06.2006
IPC:
B23K 26/06 (2006.01)
Applicants: BRANSON ULTRASONICS CORP. [US/US]; 41 Eagle Road, Danbury, Connecticut 06813 (US) (For All Designated States Except US).
CALDWELL, Scott [US/US]; (US) (For US Only).
ROONEY, Paul [CA/US]; (US) (For US Only).
MCNAIR, Hugh [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: CALDWELL, Scott; (US).
ROONEY, Paul; (US).
MCNAIR, Hugh; (US)
Agent: FULLER, Roland, III; HARNESS, DICKEY & PIERCE, P.L.C., P.o. Box 828, Bloomfield Hills, Michigan 48303 (US)
Priority Data:
11/170,570 29.06.2005 US
Title (EN) METHOD FOR SCAN WELDING OR MARKING THROUGH A WAVEGUIDE AND WAVEGUIDE THEREFOR
(FR) PROCEDE DE SOUDAGE OU DE MARQUAGE PAR BALAYAGE EFFECTUE AU MOYEN D'UN GUIDE D'ONDES ET GUIDE D'ONDES CORRESPONDANT
Abstract: front page image
(EN)An optical scan system welds or marks a part by directing an optical beam onto the part at a sufficient energy density level to weld or mark it. A method of controlling a pattern where the part is to be exposed to the beam at the sufficient energy density level includes disposing a waveguide between the part and an optical source of the optical scan system to prevent areas of the part that are not to be welded or marked from being exposed to the beam at the sufficient energy density level to weld or mark them, allowing the areas to be welded or marked to be exposed to the beam at the sufficient energy level. In an aspect, the waveguide prevents the beam from being reflected in an undesired direction. In an aspect, the waveguide redirects the beam from the areas of the part that are not to be welded or marked to areas that are to be welded or marked to concentrate the energy on the areas to be welded or marked. In an aspect, a dissipative waveguide dissipates energy of the beam in the areas of the part that are not to be welded or marked so that those areas are not exposed to the beam at the sufficient energy density level.
(FR)Un système de balayage optique soude ou marque un élément au moyen d'un faisceau optique qu'il oriente sur l'élément avec un niveau de densité d'énergie suffisant pour le souder ou le marquer. Un procédé de commande d'une structure où l'élément doit être exposé au faisceau avec le niveau de densité d'énergie suffisant consiste à disposer un guide d'ondes entre l'élément et une source optique du système de balayage optique afin d'empêcher des zones de l'élément ne devant pas être soudées ou marquées d'être exposées au faisceau ayant le niveau de densité d'énergie suffisant pour les souder ou les marquer, ceci permettant d'exposer au faisceau ayant le niveau d'énergie suffisant, les zones devant être soudées ou marquées. Selon un aspect, le guide d'ondes empêche le faisceau d'être réfléchi dans une direction non désirée et selon un autre aspect, le guide d'ondes réoriente le faisceau des zones de l'élément ne devant pas être soudées ou marquées afin de concentrer l'énergie sur les zones devant être soudées ou marquées. Selon un dernier aspect, un guide d'ondes dissipateur dissipe l'énergie du faisceau dans les zones de l'élément qui ne doivent pas être soudées ni marquées de sorte que ces zones ne soient pas exposées au faisceau ayant le niveau de densité d'énergie suffisant.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)