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1. (WO2007003341) METHOD FOR THE FORGERY-PROOF IDENTIFICATION OF INDIVIDUAL ELECTRONIC SUBASSEMBLIES
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Pub. No.: WO/2007/003341 International Application No.: PCT/EP2006/006321
Publication Date: 11.01.2007 International Filing Date: 29.06.2006
IPC:
H01L 23/544 (2006.01)
H ELECTRICITY
01
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
L
SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
23
Details of semiconductor or other solid state devices
544
Marks applied to semiconductor devices, e.g. registration marks, test patterns
Applicants:
ROHDE & SCHWARZ GMBH & CO. KG [DE/DE]; Mühldorfstrasse 15 81671 München, DE (AllExceptUS)
WANIERKE, Otmar [DE/DE]; DE (UsOnly)
Inventors:
WANIERKE, Otmar; DE
Agent:
KÖRFER, Thomas ; Mitscherlich & Partner Sonnenstrasse 33 80331 München, DE
Priority Data:
10 2005 031 378.705.07.2005DE
Title (DE) VERFAHREN ZUR FÄLSCHUNGSSICHEREN IDENTIFIKATION INDIVIDUELLER ELEKTRONISCHER BAUGRUPPEN
(EN) METHOD FOR THE FORGERY-PROOF IDENTIFICATION OF INDIVIDUAL ELECTRONIC SUBASSEMBLIES
(FR) PROCEDE POUR IDENTIFIER DES MODULES ELECTRONIQUES INDIVIDUELS EN EVITANT LES FRAUDES
Abstract:
(DE) Ein Verfahren zur fälschungssicheren Identifikation individueller elektronischer Baugruppen ermittelt die aus einem gezielten Ausfall einer oder mehrerer Hilfsfunktionen eines Speichers (2) einer individuellen elektronischen Baugruppe (1) resultierenden Zustandsänderungen bestimmter Speicherzellen des Speichers (2) und vergleicht sie mit vorab ermittelten, aus dem gezielten Ausfall der Hilf sfunktion des Speichers (2) der elektronischen Baugruppe (1) resultierenden speichercharakteristischen Referenz -Zustandsänderungen bestimmter Speicherzellen des Speichers (2) hinsichtlich Identität.
(EN) Disclosed is a method for the forgery-proof identification of individual electronic subassemblies. According to said method, the changes in the status of certain storage locations of a memory (2) of an individual electronic subassembly (1) resulting from a specific breakdown of one or several auxiliary functions of said memory (2) are determined, and said changes in status are compared to predetermined memory-characteristic reference changes in the status of specific storage locations of the memory (2) regarding the identity thereof, said reference changes resulting from the specific breakdown of the auxiliary function of the memory (2) of the electronic subassembly (1).
(FR) La présente invention concerne un procédé pour identifier des modules électroniques individuels en évitant les fraudes, le procédé comprenant la détermination des changements d'état de certains cellules mémoire d'une mémoire (2) d'un module électronique individuel (1), qui résultent d'une défaillance ciblée d'une ou de plusieurs fonctions auxiliaires de la mémoire (2), et la comparaison en ce qui concerne l'identité, de ces changements d'état avec des changements d'état de référence préétablis de certaines cellules mémoires de la mémoire (2), qui résultent de la défaillance cible de la fonction auxiliaire de la mémoire (2) du module électronique (1).
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Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)
Also published as:
EP1900026US20090284349