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1. (WO2007000199) METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY SCANNING A SAMPLE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2007/000199    International Application No.:    PCT/EP2006/003227
Publication Date: 04.01.2007 International Filing Date: 08.04.2006
IPC:
G01B 21/04 (2006.01), G02B 21/24 (2006.01)
Applicants: OLYMPUS SOFT IMAGING SOLUTIONS GMBH [DE/DE]; Johann-Krane-Weg 39, 48149 Münster (DE) (For All Designated States Except US).
TÜMPNER, Jürgen [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: TÜMPNER, Jürgen; (DE)
Agent: NUNNENKAMP, Jörg; Andrejewski, Honke & Sozien, Theaterplatz 3, 45127 Essen (DE)
Priority Data:
10 2005 029 381.6 24.06.2005 DE
Title (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTISCHEN ABTASTUNG EINER PROBE
(EN) METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY SCANNING A SAMPLE
(FR) PROCEDE ET SYSTEME DE BALAYAGE OPTIQUE D'UN ECHANTILLON
Abstract: front page image
(DE)Gegenstand der vorliegenden Erfindung sind ein Verfahren und eine Vorrichtung zur optischen Abtastung einer Probe, insbesondere mit einem Mikroskop. Dazu sind eine Verstelleinheit (2, 3) sowie eine Abtasteinrichtung (4, 5) vorgesehen. Die Probe (1) wird mittels der von einer Steueranlage (7) beaufschlagten Verstelleinheit (2, 3) gegenüber der Abtasteinrichtung (4, 5) bewegt, oder umgekehrt. Erfindungsgemäß wird für die Verstelleinheit (2, 3) und/oder die Abtasteinrichtung (4, 5) ein Bewegungsfenster (F) definiert, innerhalb dessen mechanische Kollisionen zwischen der Probe (1 ) und der Abtasteinrichtung (4, 5) mit der Abtasteinrichtung (4, 5) ausgeschlossen sind. Dies ist insbesondere vorteilhaft bei biologischen Proben. Zum Kollisionsschutz wird ein berührungsloser, z.B. auf Basis elektromagnetischer oder akustischer Wellen arbeitender Probensensor (8) vorgeschlagen.
(EN)The invention relates to a method and a device for optically scanning a sample, especially using a microscope. To this end, an adjustment unit (2, 3) and a scanning device (4, 5) are provided. The sample (1) is displaced in relation to the scanning device (4, 5) by means of the adjustment unit (2, 3) which is acted upon by a control installation (7), or vice versa. According to the invention, a displacement window (F) is defined for the adjustment unit (2, 3) and/or the scanning device (4, 5), inside which mechanical collisions between the sample (1) and the scanning device are prevented. This is especially advantageous in biological samples. A non-contact sample sensor (8) is provided for the prevention of collisions, said sensor operating, for example, by electromagnetic or acoustic waves.
(FR)L'invention concerne un procédé et un système de balayage optique d'un échantillon, en particulier au moyen d'un microscope. Une unité de réglage (2, 3) et un dispositif de balayage (4, 5) sont utilisés à cet effet. L'échantillon (1) est déplacé au moyen de l'unité de réglage (2, 3) commandée par une installation de commande (7) vis-à-vis du dispositif de balayage (4, 5), ou inversement. Selon l'invention, une fenêtre de déplacement (F) est définie pour l'unité de réglage (2, 3) et/ou le dispositif de balayage (4, 5), les collisions mécaniques entre l'échantillon (1) et le dispositif de balayage (4, 5) étant exclues à l'intérieur de cette fenêtre. L'invention présente un avantage en particulier pour les échantillons biologiques. La protection contre les collisions est assurée par un capteur d'échantillon (8) sans contact fonctionnant par exemple avec des ondes électromagnétiques ou acoustiques.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)