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Pub. No.:    WO/2006/126990    International Application No.:    PCT/US2005/018004
Publication Date: 30.11.2006 International Filing Date: 23.05.2005
G06F 9/44 (2006.01)
Applicants: SUN MICROSYSTEMS, INC. [US/US]; 4150 Network Circle, Santa Clara, California 95054 (US) (For All Designated States Except US).
ALI, Syed M. [IN/US]; (US) (For US Only).
KAMEN, Yury [US/US]; (US) (For US Only).
ALUR, Deepak [IN/US]; (US) (For US Only).
CRUPI, John P. [US/US]; (US) (For US Only).
MALKS, Daniel B. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: ALI, Syed M.; (US).
KAMEN, Yury; (US).
ALUR, Deepak; (US).
CRUPI, John P.; (US).
MALKS, Daniel B.; (US)
Agent: OSHA, Jonathan P.; OSHA - LIANG L.L.P., 1221 McKinney Street, Suite 2800, Houston, TX 77010 (US)
Priority Data:
11/133,660 20.05.2005 US
Abstract: front page image
(EN)A method for analyzing a target system, that includes obtaining a plurality of characteristics from the target system using a characteristics extractor, wherein the plurality of characteristics is defined in a characteristics model and each of the plurality of characteristics is associated with one of a plurality of artifacts defined in the characteristics model, storing each of the plurality of characteristics in a characteristics store, and analyzing the target system by issuing a query to the characteristics store to obtain an analysis result, wherein the query is used to determine the presence of a first pattern in the target system.
(FR)Procédé permettant d'analyser un système cible, qui consiste à obtenir une pluralité de caractéristiques du système cible à l'aide d'un extracteur de caractéristiques, la pluralité de caractéristiques étant définie dans un modèle de caractéristiques et chaque caractéristique de la pluralité de caractéristiques étant associée à un artefact parmi une pluralité d'artefacts définie dans le modèle de caractéristiques, à stocker chaque caractéristique de la pluralité de caractéristiques dans une mémoire, et à analyser le système cible en émettant une interrogation adressée à la mémoire de caractéristiques pour obtenir un résultat d'analyse, ladite interrogation étant utilisée pour déterminer la présence d'une première forme dans le système cible.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)