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1. (WO2006125607) METHOD AND DEVICE FOR SCANNING A SAMPLE WITH CONTRAST EVALUATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/125607    International Application No.:    PCT/EP2006/004898
Publication Date: 30.11.2006 International Filing Date: 23.05.2006
IPC:
G02B 21/36 (2006.01)
Applicants: OLYMPUS SOFT IMAGING SOLUTIONS GMBH [DE/DE]; Johann-Krane-Weg 39, 48149 Münster (DE) (For All Designated States Except US).
TÜMPNER, Jürgen [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: TÜMPNER, Jürgen; (DE)
Agent: NUNNENKAMP, Jörg; Andrejewski, Honke & Sozien, Theaterplatz 3, 45127 Essen (DE)
Priority Data:
10 2005 024 063.1 25.05.2005 DE
Title (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ABTASTUNG EINER PROBE MIT KONTRASTAUSWERTUNG
(EN) METHOD AND DEVICE FOR SCANNING A SAMPLE WITH CONTRAST EVALUATION
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR L'EXPLORATION D'UN ECHANTILLON AVEC EVALUATION DU CONTRASTE
Abstract: front page image
(DE)Gegenstand der vorliegenden Erfindung sind ein Verfahren und eine Vorrichtung zur optischen Abtastung einer Probe (1). Dazu verfügt die Vorrichtung über eine Verstelleinheit (2, 3) sowie eine Abtasteinrichtung (4, 5) mit Optikeinheit (4) und Abtasteinheit (5). Zusätzlich ist eine Steueranlage (6) realisiert, welche die Optikeinheit (4), die Abtasteinheit (5) und die Verstelleinheit (2, 3) steuert. Die Probe (1) wird mittels der von der Steueranlage (6) beaufschlagten Verstelleinheit (2, 3) gegenüber der Abtasteinrichtung (4, 5) bewegt, oder umgekehrt. Auf diese Weise mit der Abtasteinrichtung (4, 5) gewonnene Einzelbilder (7) werden in der Steueranlage (6) zu wenigstens einem Gesamtbild zusammengesetzt. Erfindungsgemäß wird das jeweils erfasste Einzelbild (7) hinsichtlich seines Kontrastes ganz oder teilweise ausgewertet, wobei die dadurch gewonnenen Kontrastwerte (K) die Funktionsweise der gesamten Anlage beeinflussen.
(EN)The invention relates to a method and to a device for optically scanning a sample (1). Said device comprises an adjusting unit (2, 3) and a scanning device (4, 5) which comprises an optical unit (4) and a scanning unit (5). The inventive device also comprises a control arrangement (6) which controls the optical unit (4), the scanning unit (5) and the adjusting unit (2, 3). Said sample (1) is displaced in relation to the scanning device (4, 5), or vice-versa, by means of the adjusting unit (2, 3) which is impinged upon by the control arrangement (6). As a result, individual images (7), which are obtained by means of the scanning device (4, 5) are assembled to make at least one global image in the control arrangement (6). According to the invention, the respectively detected individual image (7) is evaluated either partially or totally in relation to the contrast thereof, and the obtained contrast values (K) influence the functionality of the entire arrangement.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif pour l'exploration optique d'un échantillon (1). Le dispositif selon l'invention comprend une unité d'ajustage (2, 3), ainsi qu'un dispositif d'exploration (4, 5) composé d'une unité optique (4) et d'une unité d'exploration (5). Le dispositif selon l'invention comprend également une installation de commande (6) qui commande l'unité optique (4), l'unité d'exploration (5) et l'unité d'ajustage (2, 3). L'échantillon (1) est déplacé par rapport au dispositif d'exploration (4, 5), ou inversement, au moyen de l'unité d'ajustage (2, 3) sollicitée par l'installation de commande (6). Les images individuelles (7) ainsi obtenues au moyen du dispositif d'exploration (4, 5) sont assemblées en au moins une image globale dans l'installation de commande (6). Selon l'invention, l'image individuelle respectivement acquise (7) est évaluée intégralement ou partiellement quant à son contraste, les valeurs de contraste ainsi obtenues (K) influençant le fonctionnement de toute l'installation.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)