WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2006117989) CONDUCTION TESTER FOR WIRE HARNESS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/117989    International Application No.:    PCT/JP2006/307761
Publication Date: 09.11.2006 International Filing Date: 12.04.2006
IPC:
G01R 31/02 (2006.01), H01R 43/00 (2006.01)
Applicants: SUMITOMO WIRING SYSTEMS, LTD. [JP/JP]; 1-14, Nishisuehiro-cho, Yokkaichi-shi, Mie 5100058 (JP) (For All Designated States Except US).
SHIRAKAWA, Jun-ichi [JP/JP]; (JP) (For US Only).
FUKADA, Kazumitsu [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SHIRAKAWA, Jun-ichi; (JP).
FUKADA, Kazumitsu; (JP)
Agent: YOSHIDA, Shigeaki; 10th Floor Sumitomo-seimei OBP Plaza Bldg. 4-70, Shiromi 1-chome Chuo-ku Osaka-shi, Osaka 540-0001 (JP)
Priority Data:
2005-132575 28.04.2005 JP
Title (EN) CONDUCTION TESTER FOR WIRE HARNESS
(FR) TESTEUR DE CONDUCTION POUR FAISCEAU DE FILS
(JA) ワイヤーハーネスの導通検査器
Abstract: front page image
(EN)A conduction tester (10), where, in a cylinder (19) as a contact/separation means, a rod (191) can be separated from and made to be in contact with an inspection section (18), and particularly when the rod (191) does not press the inspection section (18), the rod (191) can be separated from the inspection section (18). Because of the construction above, when pressing of an inspection section body (181) toward a connector holding section (12) is released, a worker can easily slide the inspection section (18) and a slide body (17) rearward along a rail (16) only by applying light force, and the sliding can be effected within a range where the rod (191) and the inspection section (18) are separated. As a result, the upper surface of a fitting hole (123) can be easily opened, thereby installation and take-out of a connector (60) is facilitated.
(FR)La présente invention concerne un testeur de conduction (10) dans lequel, dans un cylindre (19) servant de moyen de contact/séparation, une tige (191) peut être séparée d'une section d'inspection (18) et amenée en contact avec celle-ci, en particulier lorsque la tige (191) ne comprime pas la section d'inspection (18), ladite tige (191) peut être séparée de la section d'inspection (18). En raison de la construction susmentionnée, lorsque la compression d'un corps de section d'inspection (181) vers une section de support de connecteur (12) est relâchée, un ouvrier peut facilement faire glisser la section d'inspection (18) et un corps coulissant (17) vers l'arrière le long d'un rail (16) en appliquant seulement une force légère et le coulissement peut être effectué dans une plage dans laquelle la tige (191) et la section d'inspection (18) sont séparées. Par conséquent, la surface supérieure d'un trou de fixation (123) peut être facilement ouverte, facilitant ainsi l'installation et l'enlèvement d'un connecteur (60).
(JA) 本発明の導通検査器(10)は、接離手段としてのシリンダ(19)において、ロッド(191)を検査部(18)から離接自在とし、特に検査部(18)を押圧しないときに、当該検査部(18)から離間可能とされているので、検査部本体(181)のコネクタ保持部(12)側への押圧が解除された際に、作業者は軽い力を加えるだけで、ロッド(191)と検査部(18)とが離間した範囲で、容易に検査部(18)及びスライド体(17)をレール(16)に沿って後方へスライドさせることができる。したがって、嵌入孔(123)の上面を容易に開放することができ、コネクタ(60)の装着や取り出しが容易となる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)