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1. WO2006100792 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF OUTPUTTING SIGNALS ON SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT

Publication Number WO/2006/100792
Publication Date 28.09.2006
International Application No. PCT/JP2005/015173
International Filing Date 15.08.2005
IPC
G06F 1/24 2006.01
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
1Details not covered by groups G06F3/-G06F13/82
24Resetting means
CPC
G06F 1/24
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
1Details not covered by groups G06F3/00G06F13/00 and G06F21/00
24Resetting means
Applicants
  • KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • ISHIGAKI, Takeshi [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventors
  • ISHIGAKI, Takeshi
Agents
  • SUZUYE, Takehiko
Priority Data
2005-07956218.03.2005JP
Publication Language English (EN)
Filing Language English (EN)
Designated States
Title
(EN) SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF OUTPUTTING SIGNALS ON SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
(FR) COMPOSANT DE CIRCUIT INTEGRE A SEMICONDUCTEUR ET PROCEDE DE SORTIE DE SIGNAUX SUR LE CIRCUIT INTEGRE A SEMICONDUCTEUR
Abstract
(EN)
A semiconductor integrated circuit device includes a semiconductor substrate having a first area. A first counter is provided in the first area, cyclically counts and outputs a first counter signal as a result of counting. A global reset circuit is provided on the semiconductor substrate and outputs a global reset signal. A first local reset circuit is provided in the first area and outputs a first local reset signal upon receiving the first counter signal of a set value after supplied with the global reset signal. A first circuit is provided in the first area and supplied with the first local reset signal.
(FR)
L'invention concerne un composant de circuits intégré à semiconducteur qui inclut un substrat semiconducteur comportant une première zone. Un premier compteur est prévu dans la première zone, lequel compte de manière cyclique et fournit en sortie un premier signal de compteur en résultat du comptage. Un circuit global de réinitialisation est prévu sur le substrat semiconducteur et fournit en sortie un signal global de réinitialisation. Un premier circuit local de réinitialisation est prévu dans la première zone et fournit en sortie un premier signal local de réinitialisation lors de la réception du premier signal de compteur d'une valeur établie, après avoir reçu le signal global de réinitialisation. Un premier circuit est prévu dans la première zone, et il est doté du premier signal local de réinitialisation.
Also published as
EP5772545
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