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1. (WO2006091968) MULTIPLE-ANGLE RETROREFLECTOMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/091968    International Application No.:    PCT/US2006/007034
Publication Date: 31.08.2006 International Filing Date: 27.02.2006
IPC:
G01N 21/55 (2006.01)
Applicants: BELFORT INSTRUMENT COMPANY [US/US]; 727 S. Wolfe St., Baltimore, Maryland 21231 (US) (For All Designated States Except US).
AUSTIN, Richard, L. [US/US]; (US) (For US Only).
LUSTENBERGER, Charles, R. [US/US]; (US) (For US Only).
STAUBER, Erik [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: AUSTIN, Richard, L.; (US).
LUSTENBERGER, Charles, R.; (US).
STAUBER, Erik; (US)
Agent: PALMER, Russel, R. Jr.; CHRISTIE, PARKER & HALE, LLP, P.O. Box 7068, Pasadena, California 91105-7068 (US)
Priority Data:
60/656,210 25.02.2005 US
Title (EN) MULTIPLE-ANGLE RETROREFLECTOMETER
(FR) RETROREFLECTOMETRE A ANGLES MULTIPLES
Abstract: front page image
(EN)A system and method for measuring the photometric retroreflectivity of materials. The system comprises a light source and a first optical pathway along which an illumination light beam travels originating from the light source, and ending at a retroreflective surface to be measured. A second optical pathway is provided along which a retroreflected beam travels back from the retroreflective surface to an aperture array that selects multiple annular areas to be further directed to multiple detectors, one detector for each annular area selected by the aperture. Each detector has a filter for the determination of photometric retroreflectivity. The retroreflected light reaching the detectors produces currents proportion to the intensity of the light. A high-gain current-to-voltage amplifier is used to provide voltage signal to an analog-to-digital converter that converts a voltage to a digital number. A processor is electrically coupled to the analog-to-digital converter with an accompanying memory on which is stored operating logic adapted to determine the photometric intensity of a predetermined pattern of the retroreflected beam incident to the array of apertures and detectors which defines the retroreflected light which propagates from the retroreflective surface at a predetermined observation angle.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé permettant de mesurer la rétroréflectivité photométrique de matériaux. Le système comprend une source lumineuse et un premier trajet optique le long duquel un faisceau de lumière d'éclairage se déplace en provenance de la source lumineuse, et se terminant au niveau d'une surface rétroréfléchissante. Un second trajet optique est formé le long duquel un faisceau rétroréfléchi est renvoyé à partir de la surface rétroréfléchissante vers un réseau d'ouvertures qui sélectionne de multiples zones annulaires pour être ensuite dirigé vers de multiples détecteurs, un détecteur pour chaque zone annulaire sélectionnée par l'ouverture. Chaque détecteur présente un filtre permettant de déterminer la rétroflectivité photométrique. La lumière rétroréfléchie atteignant les détecteurs produit des courants proportionnels à l'intensité de la lumière. Un amplificateur de courant-tension à gain élevé est utilisé pour fournir un signal de tension à un convertisseur analogique-numérique qui convertit une tension en un nombre numérique. Un processeur est électriquement couplé au convertisseur analogique-numérique à l'aide d'une mémoire d'accompagnement sur laquelle est stockée une logique de fonctionnement conçue pour déterminer l'intensité photométrique d'un diagramme prédéterminé du faisceau rétroréfléchi incident sur le réseau d'ouvertures et de détecteurs qui définit la lumière rétroréfléchie qui se propage à partir de la surface rétroréfléchissante selon un angle d'observation prédéterminé.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)