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1. (WO2006091051) TEST HANDLER HAVING SIZE-CHANGEABLE TEST SITE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/091051    International Application No.:    PCT/KR2006/000669
Publication Date: 31.08.2006 International Filing Date: 27.02.2006
Chapter 2 Demand Filed:    27.09.2006    
IPC:
G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01)
Applicants: TECHWING CO., LTD. [KR/KR]; 6f., Yunmin Techno Town, 473-4, Bora-ri, Kiheung-eup, Yongin-city, Gyeonggi-do 449-904 (KR) (For All Designated States Except US).
SHIM, Jae Gyun [KR/KR]; (KR) (For US Only).
NA, Yun Sung [KR/KR]; (KR) (For US Only).
JEON, In Gu [KR/KR]; (KR) (For US Only)
Inventors: SHIM, Jae Gyun; (KR).
NA, Yun Sung; (KR).
JEON, In Gu; (KR)
Agent: JANG, Seong Ku; 19th Fl., Trust Tower, 275-7, Yangjae-dong, Seocho-gu, Seoul 137-130 (KR)
Priority Data:
20-2005-0005351 28.02.2005 KR
10-2005-0042857 23.05.2005 KR
10-2005-0118487 07.12.2005 KR
Title (EN) TEST HANDLER HAVING SIZE-CHANGEABLE TEST SITE
(FR) GESTIONNAIRE DE TEST A SURFACE DE TEST DE TAILLE VARIABLE
Abstract: front page image
(EN)A test handler (122) of the present invention includes a main body, a window (142) formed on a surface of the main body and having a size corresponding to a Hi-Fix board of MxN array (where M and N represent an integer greater than a value of =), a cover (170) detachably fixed to the main body t close a part of the window and convert the window into the test site having a size corresponding to a [M-A)x(n-B)] Hi-Fix board ( where A is an integer equal to ot greater than 0 but smaller than M, and B is an integer having a value other than 0). In the test handler, the size of window is easily modified to adapt that of the Hi-Fix board of MxN array by closing or opening a part of the window using the cover. Therefore, the test handler is capable of applying Hi-Fix boards having different sizes.
(FR)Le gestionnaire de test selon la présente invention comprend un corps principal, une fenêtre qui est formée sur une surface du corps principal et dont la taille correspond à une carte Hi-Fix à réseau MxN (où M et N représentent un entier supérieur à la valeur 0), un couvercle fixé au corps de manière détachable servant à fermer une partie de la fenêtre et à transformer cette dernière en surface de test d'une taille correspondant à une carte Hi-Fix [(M-A)x(N-B)] (où A représente un entier supérieur ou égal à 0 mais inférieur à M, et B représente un entier d'une valeur différente de 0). Dans le gestionnaire de test, la taille de la fenêtre est aisément modifiée pour se conformer à celle de la carte Hi-Fix à réseau MxN, du fait de la fermeture ou de l'ouverture d'une partie de la fenêtre au moyen du couvercle. Le gestionnaire de test selon l'invention est par conséquent capable de traiter des cartes Hi-Fix de tailles différentes.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)