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Pub. No.:    WO/2006/090769    International Application No.:    PCT/JP2006/303250
Publication Date: 31.08.2006 International Filing Date: 23.02.2006
G01R 15/20 (2006.01)
Applicants: ASAHI KASEI EMD CORPORATION [JP/JP]; 23-7, Nishi-shinjuku 1-chome Shinjuku-ku, Tokyo 1600023 (JP) (For All Designated States Except US).
SHIBAHARA, Koji [JP/JP]; (JP) (For US Only).
MATSUMOTO, Osamu [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: SHIBAHARA, Koji; (JP).
Agent: MORI, Tetsuya; Nichiei Kokusai Tokkyo Jimusho Yusen Iwamotocho Bldg., 8th Floor 3-3, Iwamoto-cho 2-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1010032 (JP)
Priority Data:
2005-047306 23.02.2005 JP
(JA) 電流測定装置
Abstract: front page image
(EN)A current to be measured is detected with high accuracy by means of a small size device while suppressing the influence of the current of another phase and generation of the induced electromotive force due to the current to be measured by means of a structural contrivance. A current measuring instrument includes a printed board (1) on which are mounted Hall elements (2a, 2b) for detecting the magnetic field produced by the current flowing through a bus bar (4a) of a current measurement object and a signal processing integrated circuit (3) for computing the value of the current flowing through the bus bar (4a) by processing the detection outputs from the Hall elements (2a, 2b). The printed board (1) is secured to bus bar (4a) in such a way that the magnetic sensitive surfaces of the Hall elements (2a, 2b) are generally perpendicular to the direction of the magnetic field produced by the current flowing through the bus bar (4a), and the surface of the printed board(1) provided with a wiring for electrically interconnecting the Hall elements (2a, 2b) and the signal processing integrated circuit (3) is generally parallel to the direction of the magnetic filed.
(FR)L’invention concerne un instrument de mesure de courant de petite dimension permettant de détecter avec une grande précision un courant à mesurer en supprimant l’influence du courant d’une autre phase et la génération d’une force électromotrice induite par le courant à mesurer grâce à un dispositif structurel. L’instrument de mesure de courant comporte une carte imprimée (1) sur laquelle sont montés des éléments à effet Hall (2a, 2b) servant à détecter le champ magnétique créé par le passage de courant dans une barre bus (4a) d’un objet de mesure de courant, et un circuit intégré de traitement de signaux (3) servant à calculer la valeur du courant circulant dans la barre bus (4a) par traitement des sorties de détection des éléments à effet Hall (2a, 2b). La carte imprimée (1) est fixée à la barre bus (4a) de façon à ce que les surfaces magnétiques sensibles des éléments à effet Hall (2a, 2b) soient généralement perpendiculaires à la direction du champ magnétique créé par le passage de courant dans la barre bus (4a), et la surface de la carte imprimée (1) dotée d’un câblage reliant électriquement les éléments à effet Hall (2a, 2b) et le circuit intégré de traitement de signaux (3) est généralement parallèle à la direction du champ magnétique.
(JA) 構造的な工夫により、他相電流からの影響を抑えるとともに、さらに被測定電流に起因する誘導起電力の生成を抑え、小型で精度よく被測定電流を検出する。電流測定対象のバスバー4aに流れる電流によって生じる磁場を検知するホール素子2a、2bと、これらホール素子2a、2bの検知出力を処理してバスバー4aに流れる電流値を算出する信号処理集積回路3とが実装されたプリント基板1を含む電流測定装置において、ホール素子2a、2bの感磁面が、バスバー4aに流れる電流によって生じる磁場の方向に対して略垂直になるようにし、かつ、ホール素子2a、2bと信号処理集積回路3とを電気的に接続する配線の設けられているプリント基板1の基板表面が磁場の方向に対して略平行に位置するように、バスバー4aに対してプリント基板1を固定する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)