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1. (WO2006090727) METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING FILLED STATE OF GROUT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/090727    International Application No.:    PCT/JP2006/303138
Publication Date: 31.08.2006 International Filing Date: 22.02.2006
Chapter 2 Demand Filed:    25.12.2006    
IPC:
G01N 29/00 (2006.01), G01N 29/04 (2006.01)
Applicants: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KUMAMOTO UNIVERSITY [JP/JP]; 2-39-1, Kurokami, Kumamoto-shi, Kumamoto 8608555 (JP) (For All Designated States Except US).
MORI, Kazuya [JP/JP]; (JP) (For US Only).
TORIGOE, Ippei [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: MORI, Kazuya; (JP).
TORIGOE, Ippei; (JP)
Agent: FUJISHIMA, Youichiro; 2F, Oodai Building 9-5, Shinjuku 1-chome Shinjuku-ku Tokyo 1600022 (JP)
Priority Data:
2005-048467 24.02.2005 JP
Title (EN) METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING FILLED STATE OF GROUT
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF D'INSPECTION DE L'ETAT REMPLI D'UN COULIS
(JA) グラウト充填状態の検査方法および検査装置
Abstract: front page image
(EN)A method and a device capable of definitely inspecting the partial filled state of grout for a newly constructed structure or an existing PC structure despite the fact that they are non-destructive and extremely simple. A magnetic line of force is radiated, in a pulse form or periodically, to the PC structure (1) to be inspected by an electromagnet (6). The filled state of the grout (3) in the PC structure (1) is inspected based on the presence or absence or the intensity of vibration observed on the surface (1A) of the PC structure (1) correspondingly to the radiation of the magnetic line of force. When a void (8) is present in the grout (3) inside the PC structure (1), vibration is not almost locally observed on the surface (1A) of the PC structure (1) near a position where the void (8) is present. When the void (8) is not present in the grout (3), the vibration is observed on the approximately overall surface (1A) of the PC structure (1).
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif capables d'inspecter de manière définitive l'état rempli partiel d'un coulis pour une structure nouvellement construite ou une structure pseudo convexe (PC) en dépit du fait qu'ils ne sont pas destructifs et sont extrêmement simples. Une ligne de force magnétique est rayonnée, sous forme impulsionnelle ou périodique, vers la structure PC (1) à inspecter, grâce à un électroaimant (6). L'état rempli du coulis (3) dans la structure PC (1) est inspecté sur la base de la présence, de l'absence ou de l'intensité de vibration observée sur la surface (1A) de la structure PC (1) en correspondance avec le rayonnement de la ligne de force magnétique. Lorsqu'un vide (8) est présent dans le coulis (3) à l'intérieur de la structure PC (1), la vibration n'est presque pas observée localement sur la surface (1A) de la structure PC (1) à proximité d'une position où est présent le vide (8). Lorsque aucun vide (8) n'est présent dans le coulis (3), la vibration est observée approximativement sur la surface totale (1A) de la structure PC (1).
(JA) 新設あるいは既設のPC構造物に対して、非破壊で、極めて簡易な手法でありながら明確に、グラウトの部分的な充填状態を検査することのできる方法および装置を提供する。電磁石(6)によって磁力線をパルス状あるいは周期的に、被検査対象であるPC構造物(1)に対して照射する。磁力線の照射に対応してPC構造物(1)の表面(1A)で観測される振動の有無またはその強弱に基づいて、PC構造物(1)の内部におけるグラウト(3)の充填状態を検査する。PC構造物(1)内のグラウト(3)にボイド(8)が存在している場合には、そのボイド(8)が存在している位置付近のPC構造物(1)の表面(1A)には局所的に振動がほとんど観測されない。グラウト(3)にボイド(8)が存在していない場合には、PC構造物(1)のほぼ全体に亘って表面(1A)で振動が観測される。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)