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1. (WO2006087782) DEVICE AND METHOD FOR EVALUATING WAVEFORM MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING JITTER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/087782    International Application No.:    PCT/JP2005/002428
Publication Date: 24.08.2006 International Filing Date: 17.02.2005
IPC:
G01R 29/02 (2006.01), G01R 13/20 (2006.01), G01R 35/00 (2006.01)
Applicants: KYOCERA KINSEKI CORPORATION [JP/JP]; 8-1, Izumihoncho 1-chome, Komae-shi Tokyo 2018648 (JP) (For All Designated States Except US).
KATO, Manabu [JP/JP]; (JP) (For US Only).
DOI, Arata [JP/JP]; (JP) (For US Only).
KAWASHIMA, Makoto [JP/JP]; (JP)
Inventors: KATO, Manabu; (JP).
DOI, Arata; (JP).
KAWASHIMA, Makoto; (JP)
Agent: YAMAKAWA, Masaki; c/o Yamakawa International Patent Office, 8th Floor, Shuwa-Tameike Building, 4-2, Nagatacho 2-chome, Chiyoda-ku Tokyo 1000014 (JP)
Priority Data:
Title (EN) DEVICE AND METHOD FOR EVALUATING WAVEFORM MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MEASURING JITTER
(FR) DISPOSITIF ET MÉTHODE D’ÉVALUATION DE DISPOSITIF DE MESURE DE FORME D’ONDE ET MÉTHODE DE MESURE DU SCINTILLEMENT
(JA) 波形測定装置の評価装置および評価方法ならびにジッター測定方法
Abstract: front page image
(EN)Jitter of a signal generator is measured more accurately by subtracting temporal fluctuation of a waveform measuring instrument used for measuring jitter from jitter measured by a jitter measuring instrument. The fluctuation of a waveform measuring device is evaluated by an evaluating device comprising a passive circuit (101) having a capacity (112), a drive circuit (102) for charging/discharging the capacity, and a signal processing means (105) for determining temporal fluctuation of the waveform measuring device by performing signal processing on a response waveform being obtained from the waveform measuring device (103) and indicative of temporal variation of output signal from the passive circuit, the signal processing means comprising a processing means (105a) for determining variation in measurements of output signal from the passive circuit by the waveform measuring device based on a plurality of response waveforms of the passive circuit measured by the waveform measuring device when the capacity is charged or discharged under the same conditions, and a means (105b) for converting the variation in measurements by the waveform measuring device obtained from the processing means into a temporal fluctuation.
(FR)Le scintillement d’un générateur de signaux est mesuré plus précisément en soustrayant la fluctuation dans le temps d’un instrument de mesure de forme d’onde utilisé pour mesurer le scintillement du scintillement mesuré par un appareil de mesure de scintillement. La fluctuation d’un dispositif de mesure de forme d’onde est évaluée par un dispositif d’évaluation comprenant un circuit passif (101) comportant un condensateur (112), un circuit pilote (102) pour charger/décharger le condensateur et un moyen de traitement de signal (105) pour déterminer la fluctuation dans le temps du dispositif de mesure de forme d’onde en appliquant un traitement de signal à une forme d’onde en réaction obtenue du dispositif de mesure de forme d’onde (103) et caractéristique de la variation dans le temps du signal de sortie du circuit passif, le moyen de traitement de signal comprenant un moyen de traitement (105a) pour déterminer la variation des mesures du signal de sortie du circuit passif par le dispositif de mesure de forme d’onde basée sur une pluralité de formes d’onde en réaction du circuit passif mesurées par le dispositif de mesure de forme d’onde lorsque le condensateur est chargé ou déchargé dans les mêmes conditions et un moyen (105b) pour convertir en fluctuation dans le temps la variation des mesures par le dispositif de mesure de forme d’onde obtenue du moyen de traitement.
(JA) ジッター測定器によって測定されたジッターから、当該ジッター測定に用いる波形測定器の時間的な揺らぎを差し引いて、信号発生器の持つジッターをより正確に測定する。波形測定器の揺らぎは、容量(112)を有する受動回路(101)と、前記容量を充放電する駆動回路(102)と、波形測定装置(103)によって測定して得られる、前記受動回路の出力信号の時間的変化を表す応答波形を信号処理して、前記波形測定装置の時間的な揺らぎを求める信号処理手段(105)とを備え、前記信号処理手段は、前記容量を同一の条件の下で充電または放電したときに前記波形測定装置により測定された前記受動回路の複数の応答波形に基づいて、前記受動回路の出力信号の前記波形測定装置による測定値のばらつきを求める処理手段(105a)と、この処理手段により得られた前記波形測定装置による測定値のばらつきを時間的な揺らぎに変換する変換手段(105b)とを有する評価装置によって評価する。                                                                                 
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)