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1. (WO2006087123) METHOD FOR CALIBRATING A MEASURING SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/087123    International Application No.:    PCT/EP2006/001084
Publication Date: 24.08.2006 International Filing Date: 08.02.2006
IPC:
G01B 11/00 (2006.01), G06T 7/00 (2006.01)
Applicants: ISRA VISION SYSTEMS AG [DE/DE]; Industriestrasse 14, 64297 Darmstadt (DE) (For All Designated States Except US).
ERSÜ, Enis [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: ERSÜ, Enis; (DE)
Agent: KEIL & SCHAAFHAUSEN; Cronstettenstrasse 66, 60322 Frankfurt am Main (DE)
Priority Data:
10 2005 007 536.3 17.02.2005 DE
Title (DE) VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINES MESSSYSTEMS
(EN) METHOD FOR CALIBRATING A MEASURING SYSTEM
(FR) PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SYSTEME DE MESURE
Abstract: front page image
(DE)Es wird ein Verfahren zur Kalibrierung eines auf einer Kamera (4) basierenden Messsystems (1) zur Bestimmung der Lage eines Objekts (2) in einem dreidimensionalen Bezugskoordinatensystem (3) beschrieben, bei dem die äußeren und inneren Kameraparameter in verschiedenen Schritten kalibriert werden und die Position (6) der Kamera (4) mit externen Messmitteln bestimmt wird. Um den Verfahrensablauf der Kalibrierung zu optimieren, läuft das Verfahren in mindestens drei Verfahrensschritten ab, wobei in einem ersten Verfahrensschritt die inneren Kameraparameter einer bestimmten Kamera (4) ermittelt und dieser Kamera (4) fest zugeordnet werden, in einem zweiten Verfahrensschritt die Position (6) der in dem Messsystem (1) montierten Kamera (4) bestimmt wird und in einem dritten Verfahrensschritt die Orientierung (7) der Kamera (4) im dreidimensionalen Bezugskoordinatensystem (3) durch Auswertung von Kamerabildern ermittelt wird.
(EN)The invention relates to a method for calibrating measuring system (1) which is based on a camera (4) and is used for determining an object (2) position in a reference three-dimensional co-ordinate system (3), wherein the external and internal parameters of the camera are calibrated in various steps and the camera (4) position (6) is determined with the aid of external measuring means. In order to optimise a calibration process, the inventive method comprises at least three steps consisting in determining the internal parameters of said camera (4) and firmly assigning said parameters thereto, in determining the position (6) of the camera (4) mounted on the measuring system (1) and in determining the orientation (7) of the camera (4) in the reference three-dimensional co-ordinate system (3) by evaluating the images thereof.
(FR)L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un système de mesure (1) reposant sur une caméra (4), ce système servant à déterminer la position d'un objet (2) dans un système de coordonnées à trois dimensions (3). Les paramètres externes et internes de la caméra sont étalonnés en plusieurs étapes et la position (6) de la caméra (4) est déterminée à l'aide de moyens de mesure externes. Pour optimiser le processus d'étalonnage, le procédé selon l'invention se déroule en au moins trois étapes. Au cours d'une première étape, les paramètres internes d'une caméra (4) définie sont déterminés et associés de manière fixe à cette caméra (4). Une deuxième étape consiste à déterminer la position (6) de la caméra (4) montée dans le système de mesure (1) et la troisième étape consiste à déterminer l'orientation (7) de la caméra (4) dans le système de coordonnées à trois dimensions (3) par évaluation d'images de la caméra.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)