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1. (WO2006085364) ELECTRONIC COMPONENT TEST EQUIPMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/085364    International Application No.:    PCT/JP2005/001942
Publication Date: 17.08.2006 International Filing Date: 09.02.2005
IPC:
G01R 31/26 (2006.01)
Applicants: ADVANTEST Corporation [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (For All Designated States Except US).
TAKESHITA, Satoshi [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: TAKESHITA, Satoshi; (JP)
Agent: MAEDA, Hitoshi; Maeda & Nishide 2F, Tokyodo Jinboucho 3rd Bldg. 1-17, Kandajinboucho 1-chome Chiyoda-ku Tokyo 101-0051 (JP)
Priority Data:
Title (EN) ELECTRONIC COMPONENT TEST EQUIPMENT
(FR) EQUIPEMENTS D’ESSAI DE COMPOSANT ELECTRONIQUE
(JA) 電子部品試験装置
Abstract: front page image
(EN)Electronic component test equipment comprising a body side board (600) electrically connected with a test head body (500) and having a male side connector (620), and a socket board (700) fixed with an IC socket (700) to be in electrical contact with an IC device (IC) and having a female side connector (740) which is removably connected with the first connector (620). The body side board (600) has a connector board (610) for supporting the male side connector (620) to be opposite to the socket board (700), and an opening (613) larger than the male side connector (620) and at least having a first portion capable of passing the connector (620) is formed in a connector base (610).
(FR)L'invention concerne des équipements d’essai de composant électronique comprenant une carte latérale de corps (600) connectée électriquement à un corps de tête d’essai (500) comportant un connecteur de côté mâle (620) et une carte de support (700) fixée avec un support de circuit intégré (700) destiné à être en contact électrique avec un dispositif de circuit intégré (CI) et comportant un connecteur de côté femelle (740) qui est connecté de manière amovible au premier connecteur (620). La carte latérale de corps (600) comporte une carte de connecteur (610) destinée à supporter le connecteur de côté mâle (620) pour faire face à la carte de support (700), et une ouverture (613), plus grande que le connecteur de côté mâle (620) et possédant au moins une première partie pouvant traverser le connecteur (620), est formée dans une base du connecteur (610).
(JA)  電子部品試験装置は、テストヘッド本体(500)に電気的に接続されていると共にオス側コネクタ(620)を有する本体側ボード(600)と、ICデバイス(IC)が電気的に接触されるICソケット(700)が装着されていると共に、第1のコネクタ(620)に着脱可能なメス側コネクタ(740)を有するソケットボード(700)と、を備え、本体側ボード(600)は、オス側コネクタ(620)がソケットボード(700)に対向するように当該コネクタ(620)を支持するコネクタボード(610)を有し、オス側コネクタ(620)より大きく、当該コネクタ(620)が通過可能な第1の部分を少なくとも含む開口部(613)が、コネクタベース(610)に形成されている。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)