WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2006085052) METHODS AND APPARATUS FOR MEASURING THE INTERNAL STRUCTURE OF AN OBJECT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/085052    International Application No.:    PCT/GB2006/000303
Publication Date: 17.08.2006 International Filing Date: 30.01.2006
Chapter 2 Demand Filed:    08.12.2006    
IPC:
A61B 5/05 (2006.01), A61B 5/00 (2006.01)
Applicants: THE UNIVERSITY OF BRISTOL [GB/GB]; Senate House, Tyndall Avenue, Bristol BS8 1TH (GB) (For All Designated States Except US).
CRADDOCK, Ian [GB/GB]; (GB) (For US Only).
PREECE, Alan, William [GB/GB]; (GB) (For US Only).
NILAVALAN, Rajagopal [GB/GB]; (GB) (For US Only).
LEENDERTZ, Jack, Albert [GB/GB]; (GB) (For US Only).
BENJAMIN, Ralph [GB/GB]; (GB) (For US Only).
WILSON, Frederick, John [GB/GB]; (GB) (For US Only)
Inventors: CRADDOCK, Ian; (GB).
PREECE, Alan, William; (GB).
NILAVALAN, Rajagopal; (GB).
LEENDERTZ, Jack, Albert; (GB).
BENJAMIN, Ralph; (GB).
WILSON, Frederick, John; (GB)
Agent: RIBEIRO, James, Michael; Withers & Rogers LLP, Golding House, 2 Hays Lane, London SE1 2HW (GB)
Priority Data:
0502651.3 09.02.2005 GB
Title (EN) METHODS AND APPARATUS FOR MEASURING THE INTERNAL STRUCTURE OF AN OBJECT
(FR) PROCEDES ET APPAREILS PERMETTANT DE MESURER LA STRUCTURE INTERNE D'UN OBJET
Abstract: front page image
(EN)Various methods and apparatus are described for reducing signal artifacts resulting from reflections from the surface of the object. In one method, a similar paths algorithm is used to create a calibration signal to reduce signal artefacts. In another method, an equivalent location algorithm is used to create calibration data to reduce signal artefacts, in another method, blocking screens are positioned in contact with, or closely adjacent to, the surface. In another method, an anti-reflective layer is employed. The methods may be employed singly or jointly in a breast tumour imaging device.
(FR)L'invention concerne divers procédés et appareils permettant de réduire les artefacts de signaux issus de réflexions de la surface d'un objet. Dans un procédé, un algorithme de chemins similaire est utilisé pour créer un signal d'étalonnage, aux fins de réduction des artefacts de signaux. Dans un autre procédé, un algorithme d'emplacement équivalent est utilisé pour créer des données d'étalonnage, aux fins de réduction des artefacts de signaux. Encore dans un autre procédé, des écrans de blocage sont positionnés en contact avec la surface ou de manière adjacente à celle-ci. Dans un autre procédé, une couche anti-réfléchissante est mise en oeuvre. Les procédés peuvent être utilisés seuls ou de manière associée dans un dispositif d'imagerie du tumeur du sein.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)