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1. (WO2006084565) METHOD FOR OPTIMISING MEASURING TIMES OF A MEASURING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/084565    International Application No.:    PCT/EP2006/000549
Publication Date: 17.08.2006 International Filing Date: 23.01.2006
IPC:
G05B 19/418 (2006.01)
Applicants: IMMOBILIENGESELLSCHAFT HELMUT FISCHER GMBH & CO KG [DE/DE]; Industriestrasse 21, 71069 Sindelfingen (DE) (For All Designated States Except US).
RÖSSIGER, Volker [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Inventors: RÖSSIGER, Volker; (DE)
Agent: MASER, Jochen; Mammel und Maser, Tilsiter Str. 3, 71065 Sindelfingen (DE)
Priority Data:
10 2005 005 835.3 08.02.2005 DE
Title (DE) VERFAHREN ZUR OPTIMIERUNG VON MESSZEITEN EINER MESSVORRICHTUNG
(EN) METHOD FOR OPTIMISING MEASURING TIMES OF A MEASURING DEVICE
(FR) PROCEDE D'OPTIMISATION DE TEMPS DE MESURE D'UN DISPOSITIF DE MESURE
Abstract: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Optimierung von Messzeiten einer Messvorrichtung zur Prüfung von Serienteilen, bei dem eine Messung zur Erfassung eines Messwertes an einem Messgegenstand mit einer verkürzten Messzeit t‘ durchgeführt ist, die kleiner als eine Messzeit t ist, die durch die Anforderung an eine Messgerätefähigkeit bestimmt ist, bei dem der erfasste Messwert an dem Messgegenstand mit einem oberen und unteren Warngrenzwert verglichen wird, bei dem ein innerhalb des oberen und unteren Warngrenzwertes liegender Messwert abgespeichert und eine nachfolgende Messwerterfassung mit einer verkürzten Messzeit t‘ durchgeführt wird oder bei dem bei einem außeralb des oberen und unteren Warngrenzwertes liegender Messwert eine erneute Messung an derselben Messstelle mit einer Messzeit t erfasst wird und eine nachfolgende Messwerterfassung mit einer verkürzten Messzeit t‘ durchgeführt wird.
(EN)The invention relates to a method for optimising the measuring times of a measuring device for testing standard parts. According to the method: a measurement with a reduced measuring time t' is carried out on an object to be measured in order to detect a measured value, the length of the measuring time being shorter than is defined by the demands of measuring equipment capability; the detected measured value of the measured object is compared with an upper and lower warning threshold value; a measured value that lies within the upper and lower warning threshold value is stored and a subsequent measured value is detected using a reduced measuring time t'; if a measured value lies outside the upper and lower threshold value, the object is measured again at the same measuring point using a measuring time t and a subsequent measured value is detected using a reduced measuring time t'.
(FR)L'invention concerne l'optimisation de temps de mesure d'un dispositif de mesure destiné à contrôler des pièces en série, procédé consistant à effectuer une mesure de détection d'une valeur de mesure sur un objet à mesurer, en un temps raccourci t' qui est inférieur au temps de mesure t, qui est déterminé par la condition imposée par la capacité de l'appareil de mesure, à comparer la valeur mesurée détectée sur l'objet à mesurer avec une valeur limite d'avertissement supérieure et inférieure, à mémoriser une valeur de mesure se situant dans ladite valeur limite supérieure et inférieure, et à effectuer une détection d'une valeur de mesure subséquente en un temps de mesure raccourci t', ou à détecter, pour une valeur de mesure se trouvant en dehors de ladite valeur limite d'avertissement supérieure et inférieure, une nouvelle mesure en un même emplacement de mesure, en un temps de mesure t, et à effectuer une détection de valeur de mesure subséquente, en un temps de mesure raccourci t'.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)