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1. (WO2006083911) METHOD AND APPARATUS FOR PHASE CONTRAST QUADRATURE INTERFEROMETRIC DETECTION OF AN IMMUNOASSAY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/083911    International Application No.:    PCT/US2006/003470
Publication Date: 10.08.2006 International Filing Date: 01.02.2006
Chapter 2 Demand Filed:    31.08.2006    
IPC:
G01N 21/45 (2006.01)
Applicants: PURDUE RESEARCH FOUNDATION [US/US]; 3000 Kent Avenue, West Lafayette, IN 47906 (US) (For All Designated States Except US).
NOLTE, David [US/US]; (US) (For US Only).
PENG, Leilei [CN/US]; (US) (For US Only).
REGNIER, Fred, E. [US/US]; (US) (For US Only).
ZHAO, Ming [CN/US]; (US) (For US Only)
Inventors: NOLTE, David; (US).
PENG, Leilei; (US).
REGNIER, Fred, E.; (US).
ZHAO, Ming; (US)
Agent: WHITE, Ryan, O.; Bose McKinney & Evans LLP, 135 North Pennsylvania Street, Suite 2700, Indianapolis, IN 46204 (US)
Priority Data:
60/649,070 01.02.2005 US
60/755,177 30.12.2005 US
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR PHASE CONTRAST QUADRATURE INTERFEROMETRIC DETECTION OF AN IMMUNOASSAY
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE DETECTION INTERFEROMETRIQUE EN QUADRATURE PAR CONTRASTE DE PHASE D'UN DOSAGE IMMUNOLOGIQUE
Abstract: front page image
(EN)A phase contrast quadrature interferometric method and apparatus for determining the presence or absence of a target analyte in a sample, comprising using a laser beam having a wavelength h and a waist w, to probe at least a portion of a substrate having a reflecting surface that has been exposed to the sample. The reflecting surface includes at least a first region having a layer of recognition molecules specific to the target analyte and a second region that does not include a layer of recognition molecules specific to the target analyte. The method further comprises measuring a time dependent intensity on a photodetector of a substantiall only first quadrature at one of a pair of quadrature angles, of a reflected diffraction signal of the probe beam while probing the first region and the second region.
(FR)L'invention concerne un procédé interférométrique en quadrature par contraste de phase permettant de déterminer la présence ou l'absence d'un analyte cible dans un échantillon. Le procédé consiste notamment à utiliser un faisceau laser ayant une longueur d'onde ? et une taille w0 pour sonder au moins une partie d'un substrat dont la surface réfléchissante a été exposée à l'échantillon. La surface réfléchissante comprend au moins une première région possédant une couche de molécules de reconnaissance spécifiques à l'analyte cible et une deuxième région qui ne comprend pas de couche de molécules de reconnaissance spécifiques à l'analyte cible. Le procédé consiste également à mesurer sur un photodétecteur, une intensité temporelle de sensiblement une première quadrature seulement au niveau d'une paire d'angles en quadrature ?q d'un signal de diffraction réfléchi du faisceau de la sonde tout en sondant la première région et la deuxième région. Un appareil de détection interférométrique en quadrature par contraste de phase détectant la présence ou l'absence d'une molécule cible sur un réseau plan comprend une source laser destinée à générer un faisceau de sonde. L'appareil comprend une plate-forme de réception du réseau plan et un premier train optique servant à guider le faisceau de sonde sur la plate-forme de manière sensiblement normale en surface. L'appareil comprend également une lentille d'objectif munie ayant une première face et une deuxième face et ayant une distance focale, la lentille d'objectif étant ajustée sur la première face de la lentille à partir de la plate-forme par une première distance approximativement égale à la distance focale. L'appareil comprend également un des moyens de photodétection fractionnés servant à mesurer une première quadrature et une deuxième quadrature dans un signal provenant de la réflexion du faisceau laser de la sonde.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)