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1. (WO2006082557) APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTION OR EXTENSION OF X-RAY PROJECTIONS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/082557    International Application No.:    PCT/IB2006/050329
Publication Date: 10.08.2006 International Filing Date: 31.01.2006
IPC:
G01N 23/04 (2006.01), G06T 11/00 (2006.01), A61B 6/03 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW only).
PHILIPS INTELLECTUAL PROPERTY & STANDARDS GMBH [DE/DE]; Steindamm 94, 20099 Hamburg (DE) (DE only).
BERTRAM, Matthias [DE/DE]; (NL) (For US Only).
WIEGERT, Jens [DE/DE]; (NL) (For US Only)
Inventors: BERTRAM, Matthias; (NL).
WIEGERT, Jens; (NL)
Agent: SCHOUTEN, Marcus, M.; Prof. Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Priority Data:
05100666.6 01.02.2005 EP
Title (EN) APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTION OR EXTENSION OF X-RAY PROJECTIONS
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE POUR CORRIGER OU ETENDRE DES PROJECTIONS DE RAYONS X
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to an apparatus for iterative scatter correction of a data set of x-ray projections (10) of an object (1) for generation of a reconstruction image of said object. In particular for correction of artifacts caused by scatter or a truncation of x- ray projections, an apparatus is proposed, which requires less computational effort and which thus allows a correction in real-time, comprising: a model estimation unit (41) for estimating model parameters of an object model for said object by an iterative optimization of a deviation of forward projections, calculated by use of said object model and the geometry parameters for said x-ray projections, from the corresponding x-ray projections, - a scatter estimation unit (42) for estimating the amount of scatter present in said x-ray projections by use of said object model, and a correction unit (43) for correcting said x-ray projections by subtracting the estimated amount of scatter from said x-ray projections for determining an optimized object model using said corrected x-ray projections, said optimized object model being used in another iteration of said scatter correction, said scatter correction being iteratively carried out until a predetermined stop criterion has been reached. Further, corresponding apparatus for extension of truncated projections and a reconstruction apparatus is proposed.
(FR)La présente invention concerne un dispositif pour réaliser une correction de dispersion itérative d'un ensemble de données de projections de rayons X (10) d'un objet (1), afin de produire une image reconstruite dudit objet. En particulier, afin de corriger les artefacts causés par la dispersion ou une troncature de projections de rayons X, l'invention a pour objet un dispositif qui implique moins de contraintes de calcul et qui permet ainsi une correction en temps réel, le dispositif comprenant: une unité d'évaluation de modèle (41) pour évaluer des paramètres de modèle d'un modèle d'objet dudit objet, par une optimisation itérative d'une déviation de projections avant, calculés par utilisation dudit modèle d'objet, et des paramètres géométriques desdites projections de rayons X, à partir des projections de rayons X correspondantes; une unité d'évaluation de diffusion (42) pour évaluer la quantité de la diffusion dans lesdites projections de rayons X, par utilisation dudit modèle d'objet; et une unité de correction (43) pour corriger lesdites projections de rayons X par soustraction de la quantité de diffusion évaluée desdites projections de rayons X afin de déterminer un modèle d'objet optimisé au moyen desdites projections de rayons X corrigées, ledit modèle d'objet optimisé étant utilisé dans une autre itération de ladite correction de diffusion, ladite correction de diffusion étant exécutée de façon itérative jusqu'à ce qu'un critère d'arrêt prédéterminé soit atteint. L'invention a également pour objet un dispositif correspondant pour réaliser l'extension de projections tronquées, et un dispositif de reconstruction.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)