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1. (WO2006082294) METHOD FOR TESTING ELECTRICAL ELEMENTS USING AN INDIRECT PHOTOELECTRIC EFFECT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/082294    International Application No.:    PCT/FR2006/000155
Publication Date: 10.08.2006 International Filing Date: 24.01.2006
IPC:
G01R 31/308 (2006.01)
Applicants: BEAMIND [FR/FR]; 769 Boulevard de l'Escourche, F-83150 Bandol (FR) (For All Designated States Except US).
VAUCHER, Christophe [FR/FR]; (FR) (For US Only).
AUBERT, Jean-Jacques [FR/FR]; (FR) (For US Only)
Inventors: VAUCHER, Christophe; (FR).
AUBERT, Jean-Jacques; (FR)
Agent: MARCHAND, André; OMNIPAT, 24, place des Martyrs de la Résistance, F-13100 Aix-en-Provence (FR)
Priority Data:
0501094 04.02.2005 FR
Title (EN) METHOD FOR TESTING ELECTRICAL ELEMENTS USING AN INDIRECT PHOTOELECTRIC EFFECT
(FR) PROCEDE DE TEST D'ELEMENTS ELECTRIQUES UTILISANT UN EFFET PHOTOELECTRIQUE INDIRECT
Abstract: front page image
(EN)The invention concerns a method for testing electrical elements (10, 11, 13) using at least one electron discharging electrode (22), at least one electron collecting electrode (22) and at least one beam of particles (BI), including ejecting electrons present in the discharge electrode (22) by means of the beam of particles and injecting into an element (10, 11, 13) electrons supplied by the discharge electrode, and ejecting electrons present in an element (10, 11, 13) by means of the beam of particles and collecting with the collecting electrode the electrons ejected from the element. The invention is characterized in that the ejection of the electrons present in the discharge electrode (22) includes applying to the discharge electrode a reflected beam of particles (BR) derived from the reflection on at least one element of an incident beam of particles (BI). The invention provides the advantages of simplifying the step of injecting electrons into an element and of simplifying the structure of the discharge and collection electrodes.
(FR)L'invention concerne un procédé de test ou de mesure d'éléments électriques (10, 11, 13) au moyen d'au moins une électrode de décharge d'électrons (22), d'au moins une électrode de collecte d'électrons (22) et d'au moins une source d'un faisceau de particules (BI), comprenant l'éjection d'électrons présents dans l'électrode de décharge (22) au moyen du faisceau de particules et l'injection dans un élément (10, 11, 13) des électrons fournis par l'électrode de décharge, et l'éjection d'électrons présents dans un élément (10, 11, 13) au moyen du faisceau de particules et la collecte par l'électrode de collecte des électrons éjectés de l'élément. Selon l'invention, l'éjection d'électrons présents dans l'électrode de décharge (22) comprend l'application à l'électrode de décharge d'un faisceau de particules réfléchi (BR) issu de la réflexion sur au moins un élément d'un faisceau de particules incident (BI). Avantages : simplification de l'étape d'injection d'électrons dans un élément et simplification de la structure des électrodes de décharge et de collecte.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)