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1. (WO2006081168) AUTOMATED TESTS FOR BUILT-IN SELF TEST
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/081168    International Application No.:    PCT/US2006/002246
Publication Date: 03.08.2006 International Filing Date: 23.01.2006
IPC:
G11C 29/12 (2006.01)
Applicants: SPANSION LLC [US/US]; One AMD Place, Mail Stop 68, P.o. Box 3453, Sunnyvale, California 94088-3453 (US) (For All Designated States Except US).
LEE, Mimi [US/US]; (US) (For US Only).
HAMILTON, Darlene [US/US]; (US) (For US Only).
CHEAH, Ken Cheong [MY/MY]; (MY) (For US Only).
NGUYEN, Kendra [US/US]; (US) (For US Only).
GUO, Xin [CN/US]; (US) (For US Only)
Inventors: LEE, Mimi; (US).
HAMILTON, Darlene; (US).
CHEAH, Ken Cheong; (MY).
NGUYEN, Kendra; (US).
GUO, Xin; (US)
Agent: LAM, Christine; One AMD Place, Mail Stop 68, P.O. Box 3453, Sunnyvale, California 94088-3453 (US)
Priority Data:
11/041,608 24.01.2005 US
Title (EN) AUTOMATED TESTS FOR BUILT-IN SELF TEST
(FR) TESTS AUTOMATISES POUR AUTO-TEST INTEGRE
Abstract: front page image
(EN)A method (800) is discussed for providing programmable test conditions for a built-in self test circuit (212) of a flash memory device (300). The method (800) comprises providing (804) a BIST interface (220) adapted to adjust a test condition (500) used in a BIST circuit (212), providing the memory cells (310) of the Flash memory device (300), and providing the BIST circuit (212) adapted to test the flash memory (310). The method (800) further comprises communicating (806) with the BIST interface (220) one or more global variables (520) associated with the test condition (500), adjusting (808) the test condition (500) used by the BIST circuit (212) based on the values represented by the global variables (500), performing (810) one or more test operations on the flash memory (310) in accordance with the adjusted test condition, and reporting (812) the results (560) of the memory test operations. The method (800) of the present invention may further include a serial communications medium and the use of a serial test protocol for communicating the global variables (500) to the BIST interface (220) and test results (560) from the interface (220). The global variables (520) may also be provided by a memory device user.
(FR)L'invention porte sur un procédé (800) qui permet de fournir des conditions de test programmables à un circuit d'auto-test intégré (212) d'un dispositif de mémoire flash (300). Le procédé (800) consiste à former (804) une interface BIST (220) apte à ajuster une condition de test (500) utilisée dans un circuit BIST (212), à former les cellules mémoire (310) du dispositif mémoire flash (300), et à former le circuit BIST (212) apte à tester la mémoire flash (310). Le procédé (800) consiste en outre à communiquer (806) à l'interface BIST (220) une ou plusieurs variables globales (520) associées à la condition de test (500), à ajuster (808) la condition de test (500) utilisée par le circuit BIST (212) sur la base des valeurs représentées par les variables globales (500), à effectuer (810) une ou plusieurs opérations de test sur la mémoire flash (310) conformément à la condition de test ajustée, et à rapporter (812) les résultats (560) des opérations de test mémoire. Le procédé (800) de l'invention peut en outre faire appel à un support de communications sériel et à l'utilisation d'un protocole de test sériel pour communiquer les variables globales (500) à l'interface BIST (220) et pour communiquer les résultats de test (560) en provenance de l'interface (220). Les variables globales (520) peuvent également être fournies par un utilisateur de dispositif mémoire.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)