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1. (WO2006079692) ARRANGEMENT IN AN IMAGING SYSTEM FOR MICROTITRE WELLS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/079692    International Application No.:    PCT/FI2006/050044
Publication Date: 03.08.2006 International Filing Date: 27.01.2006
Chapter 2 Demand Filed:    08.11.2006    
IPC:
G01N 21/01 (2006.01), G01N 35/02 (2006.01), G02B 13/22 (2006.01), G03B 15/00 (2006.01)
Applicants: WALLAC OY [FI/FI]; Mustionkatu 6, FI-20750 Turku (FI) (For All Designated States Except US).
ERKKILÄ, Vesa [FI/FI]; (FI) (For US Only).
KUUSISTO, Ari [FI/FI]; (FI) (For US Only)
Inventors: ERKKILÄ, Vesa; (FI).
KUUSISTO, Ari; (FI)
Agent: KOLSTER OY AB; Iso Roobertinkatu 23, P.O. Box 148, FI-00121 Helsinki (FI)
Priority Data:
20055043 31.01.2005 FI
Title (EN) ARRANGEMENT IN AN IMAGING SYSTEM FOR MICROTITRE WELLS
(FR) ARRANGEMENT DANS UN SYSTEME DE VISUALISATION DE PUITS DE MICROTITRES
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to an arrangement in an imaging system for microtitre wells, the arrangement comprising a sample plate (1 ) having a plurality of wells (2) for samples, and a lens system arranged in connection with the sample plate and comprising an objective (3) and at least one lens group (7) for imaging the rays representing the structure of the samples and passing through the objective to an image detector (9). In order for the arrangement to enable a rapid imaging of the samples (5) in the wells (2) with a high resolving power, the lens system (3, 7) comprises a plurality of objectives (3) focused to infinity for collecting rays representing the samples, the objectives being at least partly arranged detachably inside wells (2) in the sample plate. The invention also relates to a method of imaging samples in microtitre wells.
(FR)L'invention porte sur un arrangement dans un système de visualisation de puits de microtitres. Ledit arrangement comporte: une plaque porte échantillons (1 ) présentant plusieurs puits recevant les échantillons, et un système de lentilles disposés en relation avec la plaque porte échantillons et comprenant un objectif (3) et au moins un groupe de lentilles (7) permettant de visualiser les rayons représentant la structure des échantillons et traversant l'objectif pour atteindre un détecteur d'images (9). Pour que l'arrangement permette une visualisation rapide des échantillons (5) placés dans les puits (2) avec un fort pouvoir de résolution, le système de lentilles (3, 7) comporte plusieurs objectifs (3) focalisés à l'infini et servant à recueillir les rayons représentatifs des échantillons, les objectifs étant au moins en partie disposés dans des puits (2) de la plaque d'échantillons de manière à pouvoir en être détachés. L'invention porte également sur un procédé de visualisation des échantillons dans les puits de microtitres:
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)