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1. (WO2006020578) SELF-CLEANING LOWER CONTACT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/020578    International Application No.:    PCT/US2005/028160
Publication Date: 23.02.2006 International Filing Date: 08.08.2005
IPC:
H01L 23/58 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/02 (2006.01)
Applicants: ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC. [US/US]; 13900 NW Science Park Drive, Portland, OR 97229-5497 (US) (For All Designated States Except US).
GARCIA, Douglas, J. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: GARCIA, Douglas, J.; (US)
Agent: LEVINE, Michael, L.; Stoel Rives, LLP, 900 S.W. Fifth Avenue, Suite 2600, Portland, OR 97204-1268 (US)
Priority Data:
10/916,063 09.08.2004 US
Title (EN) SELF-CLEANING LOWER CONTACT
(FR) CONTACT INFERIEUR AUTONETTOYANT
Abstract: front page image
(EN)An electrical component handler (2) that tests electrical circuit components and includes a self-cleaning lower contact (100) offers reduced yield loss and mean time between assists. A preferred embodiment of the electrical component handler (2) includes multiple sets of upper and lower contacts (102, 100), each set of which is spatially aligned to electrically contact a single device-under-test (DUT) (14). Each DUT (14) is seated in a test plate (5) that transports the DUT (14) to and from a test measurement position between the upper and lower contacts (102, 100). The lower contact (100) includes a contact tip (116) that a biasing mechanism (130) urges against the electrical component as it undergoes a test process and against a surface of the test plate (5) as it transports the electrical component. The lower contact (100) rubs against the test plate (5), thereby contributing to removal of contaminant material acquired by the contact tip (116) during component handler operation.
(FR)L'invention concerne un automate (2) de composants électriques testant des composants de circuits électriques, comprenant un contact inférieur autonettoyant (100) et permettant de réduire une perte de production et un temps moyen entre des événements. Dans un mode de réalisation préféré, l'automate de composants électriques (2) comprend plusieurs ensembles de contacts supérieur et inférieur (102, 100), chaque ensemble étant aligné dans l'espace de manière à venir en contact électrique avec un dispositif unique testé (DUT) (14). Chaque DUT (14) est placé sur une plaque de test (5) transportant celui-ci (14) vers une position de mesure de test, et à partir de celle-ci, entre les contacts supérieur et inférieur (102, 100). Le contact inférieur (100) comprend une pointe de contact (116) contrainte par un mécanisme de sollicitation (130) contre le composant électrique subissant un processus de test et contre une surface de la plaque de test (5) transportant le composant électrique. Le contact inférieur (100) frotte contre la plaque de test (5), de manière à contribuer ainsi à l'élimination de matériau contaminant acquis par la pointe de contact (116) au cours de l'opération de l'automate de composants.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)