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1. (WO2006019590) APPARATUS AND METHODS FOR ANALYZING SAMPLES IN A LIGHT MICROSCOPE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/019590    International Application No.:    PCT/US2005/024099
Publication Date: 23.02.2006 International Filing Date: 07.07.2005
IPC:
G01N 21/55 (2006.01), G01N 21/64 (2006.01)
Applicants: HELICOS BIOSCIENCES CORPORATION [US/US]; One Kendall Square, Building 200, Cambridge, MA 02139 (US) (For All Designated States Except US).
HARRIS, Timothy, D. [US/US]; (US) (For US Only)
Inventors: HARRIS, Timothy, D.; (US)
Agent: TURANO, Thomas, A.; Kirkpatrick & Lockhart Nicholson Graham LLP, State Street Financial Center, One Lincoln Street, Boston, MA 02111-2950 (US)
Priority Data:
60/589,170 19.07.2004 US
10/990,167 16.11.2004 US
Title (EN) APPARATUS AND METHODS FOR ANALYZING SAMPLES IN A LIGHT MICROSCOPE
(FR) APPAREILS ET PROCÉDÉS D’ANALYSE D’ÉCHANTILLONS DANS UN MICROSCOPE OPTIQUE
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to apparatus, systems, and methods for analyzing biological samples. In particular, the invention provides systems and methods for analyzing samples in a light microscope. The invention allows microscopic position sensing and focusing. The invention includes the use of at least two coordinated beams of light, one of which operates to determine the position of the other. In a preferred embodiment, the system is a microscope having total internal reflection optics installed. Systems of the invention can also be constructed from a standard microscope configured with a total internal reflection objective.
(FR)La présente invention porte sur des appareils, des systèmes et des procédés d’analyse d’échantillons biologiques. En particulier, l’invention permet d’obtenir des systèmes et des procédés d’analyse d’échantillons dans un microscope optique. L’invention permet une détection et une focalisation de la position microscopique. L’invention comprend l’utilisation d’au moins deux faisceaux lumineux coordonnés, dont l’un permet de déterminer la position de l’autre. Selon un mode de réalisation préféré, le système est un microscope ayant des circuits optiques de réflexion interne totale. Les systèmes de l’invention peuvent également être construits à partir d’un microscope standard configuré avec un objectif de réflexion interne totale.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)