WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Options
Query Language
Stem
Sort by:
List Length
1. (WO2006019082) TEST DEVICE, CONFIGURATION METHOD, AND DEVICE INTERFACE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2006/019082 International Application No.: PCT/JP2005/014924
Publication Date: 23.02.2006 International Filing Date: 15.08.2005
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
R
MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31
Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28
Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
Applicants: WASHIZU, Nobuei[JP/JP]; JP (UsOnly)
SHIBUYA, Atsunori[JP/JP]; JP (UsOnly)
ADVANTEST CORPORATION[JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071, JP (AllExceptUS)
Inventors: WASHIZU, Nobuei; JP
SHIBUYA, Atsunori; JP
Agent: RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105, JP
Priority Data:
10/923,63420.08.2004US
Title (EN) TEST DEVICE, CONFIGURATION METHOD, AND DEVICE INTERFACE
(FR) DISPOSITIF D'ESSAI, PROCÉDÉ DE CONFIGURATION ET INTERFACE DE DISPOSITIF
(JA) 試験装置、コンフィグレーション方法、及びデバイスインターフェース
Abstract:
(EN) A test device includes: a bus switch unit capable of switching between output ports for outputting the input signal; a control unit for inputting a plurality of control signals corresponding to the test program to the bus switch unit and controlling from which output port the control signal is outputted; a plurality of slots for mounting a test module for generating an input signal to an electronic device according to the control signal and receiving an output signal outputted from the electronic device; and a device interface capable of switching connections between the slots and connectors. Diagnosis signals received from the slots mounted on the test modules for diagnosis are successively supplied to the respective test modules via the respective connectors. The test module to which the diagnosis signal is supplied via each of the connectors is detected and the connector to witch each of the output ports is connected is detected.
(FR) Le dispositif d'essai comprend une unité de commutation de bus capable de commuter entre des bornes de sortie pour émettre le signal d'entrée; une unité de commande pour entrer une pluralité de signaux de commande correspondant au programme d'essai à l'unité de commutation de bus et pour commander de quelle borne de sortie est émis le signal de commande; une pluralité de fentes pour le montage d'un module d'essai pour générer un signal d'entrée à un dispositif électronique selon le signal de commande et pour la réception d'un signal de sortie émis par le dispositif électronique; et une interface de dispositif capable de commuter des connexions entre les fentes et les connecteurs. Des signaux de diagnostic reçus des fentes montées sur les modules d'essai pour le diagnostic sont alimentés successivement aux modules d'essai respectifs par les connecteurs respectifs. Le module d'essai auquel est fourni le signal de diagnostic par chacun des connecteurs est détecté et le connecteur auquel est connectée chacune des bornes de sortie est détecté.
(JA)  入力される信号をいずれの出力ポートから出力するかを切り替え可能なバススイッチ部と、試験プログラムに応じた複数の制御信号をバススイッチ部に入力し、それぞれの制御信号をいずれの出力ポートから出力するかを制御する制御部と、電子デバイスへの入力信号を制御信号に基づいて生成し、電子デバイスが出力する出力信号を受け取るテストモジュールが設置される複数のスロットと、複数のスロットをいずれのコネクタに接続するかを切り替え可能なデバイスインターフェースとを備える試験装置であって、診断用のテストモジュールが設置されたスロットから受け取る診断用信号を、それぞれのコネクタを介して、それぞれのテストモジュールに順次供給し、それぞれのコネクタを介した診断用信号が、いずれのテストモジュールに供給されたかを検出し、それぞれの出力ポートがいずれのコネクタに接続されているかを検出する。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)