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1. (WO2006013549) METHOD AND APPARATUS FOR AUTOMATIC PATTERN ANALYSIS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/013549    International Application No.:    PCT/IB2005/052570
Publication Date: 09.02.2006 International Filing Date: 01.08.2005
IPC:
G06T 7/00 (2006.01)
Applicants: ISHIKAWA, Hiroshi [JP/JP]; (JP)
Inventors: ISHIKAWA, Hiroshi; (JP)
Priority Data:
60/592,911 02.08.2004 US
Title (EN) METHOD AND APPARATUS FOR AUTOMATIC PATTERN ANALYSIS
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR L'ANAYLSE AUTOMATIQUE DE CONFIGURATION
Abstract: front page image
(EN)A method and apparatus is disclosed for pattern analysis by arranging given data so that high­dimensional data can be more effectively analyzed. The method allows arrangements of given data so that patterns can be discovered within the data. By utilizing maps that characterizes the data and the type or the set it belongs to, the method produces many data items from relatively few input data items, thereby making it possible to apply statistical and other conventional data analysis methods. In the method, a set of maps from the data or part of the data is determined. Then, new maps are generated by combining existing maps or applying certain transformations on the maps. Next, the results of applying the maps to the data are examined for patterns. Optionally, certain strong patterns are chosen, idealized, and propagated backwards to find a data reflecting that pattern.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif pour l'analyse de configuration, qui reposent sur la disposition de données permettant d'analyser plus efficacement des données à haute dimension. On dispose les données de manière à pouvoir découvrir des configurations dans ces données. L'utilisation de topographies caractérisant les données et le type ou l'ensemble auxquelles elles appartiennent offre un procédé qui fournit de nombreux éléments de données à partir d'un nombre d'éléments de données d'entrée relativement faible, ce qui permet d'appliquer des méthodes statistiques ou d'autres méthodes d'analyse de données classiques. En l'occurrence, le procédé permet de déterminer un ensemble de topographies à partir des données ou d'une partie des données. On produit ensuite de nouvelles topographies par combinaison de topographies existantes ou application de certaines transformations aux topographies. Vient ensuite l'examen des résultats de l'application des topographies aux données à la recherche de configurations. Eventuellement, des configurations fortes sont choisies, idéalisées, et répercutées vers l'arrière à la recherche de données correspondant à ces configurations.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
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Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)