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1. (WO2006011709) MEASUREMENT METHOD BY THE ELASTICITY DIFFERENCE OF TWO KINDS OF MATERIALS AND THE PRODUCTS MADE BY THE METHOD AND THE PRODUCTS ATTACHED BY THE PRODUCTS MADE BY THE METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/011709    International Application No.:    PCT/KR2005/001564
Publication Date: 02.02.2006 International Filing Date: 27.05.2005
IPC:
G01B 3/10 (2006.01)
Applicants: PARK, Jung-Kyoo [KR/KR]; (KR)
Inventors: PARK, Jung-Kyoo; (KR)
Agent: INTERNATIONAL INTELLECTUAL PROPERTY LAW FIRM HONESTY & PATENT; Kukdong Bldg. 20F 60-1, Chungmuro 3-ka, Chung-ku, Seoul, 100-705 (KR)
Priority Data:
10-2004-0059618 29.07.2004 KR
10-2005-0004532 18.01.2005 KR
Title (EN) MEASUREMENT METHOD BY THE ELASTICITY DIFFERENCE OF TWO KINDS OF MATERIALS AND THE PRODUCTS MADE BY THE METHOD AND THE PRODUCTS ATTACHED BY THE PRODUCTS MADE BY THE METHOD
(FR) PROCÉDÉ SERVANT À MESURER PAR DIFFÉRENCE D'ÉLASTICITÉ DEUX TYPES DE MATÉRIAUX, PRODUITS RÉALISÉS SELON LE PROCÉDÉ, ET PRODUITS FIXÉS PAR LES PRODUITS RÉALISÉS SELON LEDIT PROCÉDÉ
Abstract: front page image
(EN)A device for measuring a circumference using elasticity of an elastic band, a method of measuring a circumference using the device, and a product employing the device are provided. The device includes: an elastic band (4) stretching/contracting in response to variation of a circumference, the elastic band (4) having left and right side lines (42, 43) spaced apart from each other, and an indicator part (40) having a reference line (41) between the left and right side lines (42, 43); and a measurement member (2) engaged with the elastic band (4) and provided with an indicator window (22) having a center line (24), a plurality of scale lines (26) formed at one side of the center line (24), and reference points (21a, 21b, 25). The method of measuring a circumference using the device includes: a first step (Sl) of aligning the left and right side lines (42, 43) to the reference points (21a, 21b) to allow the reference line (41) of the indicator part (40) to conform to the center line (41) of the indicator window (22); a second step (S2) of measuring variations of the scale lines (26) indicated by the left and right side lines (42, 43) depending on extension and shrinkage of the elastic band (4) aligned through the first step (Sl); and a third step (S3) of calculating a varied length (L) of the scale lines (26) measured through the second step (S2).
(FR)L'invention concerne un dispositif servant à mesurer une circonférence par l'élasticité d'un ruban élastique; un procédé qui permet de mesurer une circonférence au moyen du dispositif; et un produit employant le dispositif. Le dispositif comprend: un ruban élastique (4) présentant des lignes latérales gauche et droite (42, 43) espacées l'une de l'autre; et un module indicateur (40) présentant une ligne de référence (41) entre les lignes latérales gauche et droite (42, 43); et un élément de mesure (2) en contact avec le ruban élastique (4) et muni d'un indicateur de niveau (22) présentant une ligne médiane (24), plusieurs lignes graduées (26) formées sur un côté de la ligne médiane (24), et des points de référence (21a, 21b, 25). Le procédé de mesure d'une circonférence utilisant le dispositif de l'invention comprend: une première étape (SI) consistant à aligner les lignes latérales gauche et droite (42, 43) sur les points de référence (21a, 21b, 25) pour conformer la ligne de référence (41) du module indicateur (40) à la ligne médiane (24) de l'indicateur de niveau (22); une deuxième étape (S2) consistant à mesurer des variations des lignes graduées (26) indiquées par les lignes latérales gauche et droite (42, 43) en fonction de l'allongement ou du retrait du ruban élastique (4) aligné dans la première étape (Sl); et une troisième étape (S3) consistant à calculer une longueur variable (L) des lignes graduées (26) mesurées dans la deuxième étape (S2).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: Korean (KO)