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1. (WO2006010604) A METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE PHASE SHIFT INDUCED IN A LIGHT SIGNAL BY A SAMPLE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2006/010604    International Application No.:    PCT/EP2005/008147
Publication Date: 02.02.2006 International Filing Date: 27.07.2005
IPC:
G01N 21/64 (2006.01)
Applicants: PRECISENSE A/S [DK/DK]; Neergaards Vej 3, DK-2970 Hørsholm (DK) (For All Designated States Except US).
AASMUL, Søren [DK/DK]; (DK) (For US Only)
Inventors: AASMUL, Søren; (DK)
Agent: SMART, Peter, J.; Beck Greener, Fulwood House, 12 Fulwood Place, London WC1V 6HR (GB)
Priority Data:
0416732.6 27.07.2004 GB
Title (EN) A METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING THE PHASE SHIFT INDUCED IN A LIGHT SIGNAL BY A SAMPLE
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUR MESURER LE DECALAGE DE PHASE INDUIT DANS UN SIGNAL LUMINEUX PAR UN ECHANTILLON
Abstract: front page image
(EN)Apparatus for measuring a phase shift induced in a light signal has a first light source for emitting a light signal along a measurement optical path that includes a sample, for example a fluorescent sample, and a second light source for emitting a light signal along a dummy measurement optical path. A measurement electronic circuit is provided for receiving the light signals and providing outputs separated in time which are indicative of the phase of the respective light signals. In use, a phase shift is induced in light in the measurement optical path by the fluorescent sample. A reference electronic circuit is provided for receiving a signal. indicative of the phase of the light signals emitted by the first and second light sources. Circuitry is provided to compare the respective phases of light output from the two circuits to provide an output indicative of a first measured phase difference during operation of the first light source. A correction is then applied to this measurement by taking a similar phase difference measurement during operation of the second light source and comparing the two phase differences.
(FR)L'invention concerne un appareil de mesure d'un décalage de phase induit dans un signal lumineux, comprenant une source de lumière conçue pour émettre un signal lumineux sur un trajet optique de mesure dans lequel se trouve un échantillon, par exemple un échantillon fluorescent, et une seconde source de lumière conçue pour émettre un signal lumineux sur un trajet optique de mesure fictif. Un circuit de mesure électronique est prévu pour recevoir les signaux lumineux et produire des sorties séparées dans le temps, indiquant la phase des signaux lumineux respectifs. Lors de l'utilisation, un écart de phase est induit dans la lumière se trouvant dans le trajet optique de mesure par l'échantillon fluorescent. Un circuit électronique de référence est prévu pour recevoir un signal indiquant la phase des signaux lumineux émis par les première et seconde sources de lumière. Des circuits sont prévus pour comparer les phases respectives de la sortie de lumière provenant des deux circuits pour produire une sortie indiquant une première différence de phase mesurée pendant le fonctionnement de la source de lumière. Une correction est ensuite appliquée à cette mesure par une mesure de différence de phase similaire pendant le fonctionnement de la seconde source de lumière et par comparaison des deux différences de phase.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)