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1. (WO2005124807) VOLTAGE JUDGMENT METHOD, VOLTAGE JUDGMENT PART, POWER CUT-OFF METHOD, AND POWER CUT-OFF DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/124807    International Application No.:    PCT/JP2005/011193
Publication Date: 29.12.2005 International Filing Date: 13.06.2005
IPC:
H01H 37/14 (2006.01), H01H 37/54 (2006.01), H02H 5/04 (2006.01), H02H 7/18 (2006.01)
Applicants: BIMETAL JAPAN INCORPORATED [JP/JP]; Sankou-Bldg. A304 20-3, Shimotogari, Nagaizumi-cho Suntou-gun, Shizuoka 411-0943 (JP) (For All Designated States Except US).
KUSHITA, Osami [JP/JP]; (JP) (For US Only)
Inventors: KUSHITA, Osami; (JP)
Agent: KOZUKA, Toshiki; 2nd Floor, Aoki-Bldg. 4-9, Monzennakacho 2 chome Koto-ku, Tokyo 135-0048 (JP)
Priority Data:
2004-177722 16.06.2004 JP
Title (EN) VOLTAGE JUDGMENT METHOD, VOLTAGE JUDGMENT PART, POWER CUT-OFF METHOD, AND POWER CUT-OFF DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D’ÉVALUATION DE LA TENSION, PARTIE D’ÉVALUATION DE LA TENSION, PROCÉDÉ DE COUPURE DE L'ALIMENTATION ET DISPOSITIF DE COUPURE DE L'ALIMENTATION
(JA) 電圧判定方法と電圧判定部品と電力遮断方法と電力遮断装置
Abstract: front page image
(EN)A voltage judgment method for judging whether a voltage exceeds a predetermined value includes: a diode preparation step for preparing a diode having Zener voltage substantially identical to a predetermined value; a bimetal preparation step for preparing a bimetal capable of changing its state from a normal temperature state to a high temperature state by receiving heat generated from the diode; a B contact preparation step for preparing a B contact changing from the current-supplied state to the non-current-supplied state which is interlocked with the change of the bimetal from the normal temperature state to the high temperature state; a first circuit preparation step for preparing a first circuit having a conductive material bridged on a pair of terminals for receiving the heat generated from the diode so as to be melted and cut off when a predetermined temperature is reached; and a voltage application step for applying voltage in the reverse direction to the diode. With this configuration, it is possible to provide a voltage judgment method, a voltage judgment part, a power cut-off method, and a power cut-off device having a simple configuration and performing reliable operation.
(FR)Le procédé d’évaluation de la tension décrit pour évaluer si la tension dépasse ou pas une valeur prédéterminée inclut : une étape de préparation de la diode pour préparer une diode ayant une tension Zener essentiellement identique à une valeur prédéterminée ; une étape de préparation d’un bimétal pour préparer un bimétal susceptible de modifier sont état depuis un état à température normale vers un état à température élevée en recevant la chaleur générée par la diode ; une étape de préparation du contact B pour préparer un contact B changeant depuis un état alimenté par le courant vers un état non alimenté par le courant qui est verrouillé par le changement du bimétal depuis l’état à température normale vers l’état à température élevée ; une première étape de préparation du circuit pour préparer un premier circuit ayant un matériau conducteur ponté sur une paire de bornes pour recevoir la chaleur générée par la diode de sorte à être fondu et coupé lorsqu’une température prédéterminée est atteinte ; et une étape d’application de la tension pour appliquer une tension dans la direction inverse à celle de la diode. Avec cette configuration, il est possible de fournir un procédé d’évaluation de la tension, une partie d’évaluation de la tension, un procédé de coupure de l’alimentation et un dispositif de coupure de l’alimentation ayant une configuration simple et un fonctionnement performant et fiable.
(JA)電圧が所定の値を越えていることを判定する電圧判定方法を、ツェナー電圧が所定の値に略等しいダイオードを準備するダイオード準備工程と、前記ダイオードから発生する熱を受けて常温状態から高温状態に状態変化することをできるバイメタルを準備するバイメタル準備工程と、前記バイメタルが常温状態から高温状態に状態変化するのに連動して通電状態から非通電状態になるB接点を準備するB接点準備工程と、前記ダイオードから発生する熱を受け所定の値以上の温度になると溶断する導電性素材を1対の端子に架橋した第一回路を準備する第一回路準備工程と、電圧を前記ダイオードに逆方向に印加する電圧印加工程と、を備えるものとした。この構成により、構成が簡単で作動が確実な電圧判定方法と電圧判定部品と電力遮断方法と電力遮断装置とを提供できる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)