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1. (WO2005122059) BIOMETRIC TEMPLATE SIMILARITY BASED ON FEATURE LOCATIONS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/122059    International Application No.:    PCT/IB2005/051793
Publication Date: 22.12.2005 International Filing Date: 02.06.2005
IPC:
G06K 9/00 (2006.01)
Applicants: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (For All Designated States Except US).
KEVENAAR, Thomas, A., M. [NL/NL]; (NL) (For US Only).
AKKERMANS, Antonius, H., M. [NL/NL]; (NL) (For US Only)
Inventors: KEVENAAR, Thomas, A., M.; (NL).
AKKERMANS, Antonius, H., M.; (NL)
Agent: GROENENDAAL, Antonius, W., M.; Prof. Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Priority Data:
04102609.7 09.06.2004 EP
04104322.5 08.09.2004 EP
Title (EN) BIOMETRIC TEMPLATE SIMILARITY BASED ON FEATURE LOCATIONS
(FR) DETERMINATION DE LA SIMILARITE AVEC UN GABARIT BIOMETRIQUE EN FONCTION DE LA POSITION DES CARACTERSITIQUES
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to a method and a system of determining correspondence between location sets. A basic idea of the present invention is to provide a scheme in which correspondence between location sets is determined. A feature location set (X) comprising a number (n + 1) of components is transformed into a feature vector that can be used in an HDS. Therefore, a feature density function (f fS (x)) is created. A feature vector (XF) for the HDS is chosen to be a sampled version of the feature density function (fX,g (x) ), which results in feature vectors of equal and finite dimensions regardless of the number (n + 1) of features that are present in the biometric template XT from which the location sets is derived. Thereafter, a distance (d) between two feature location sets (X, Y) is determined. The distance (d) between the sets is chosen to be the Euclidian distance between the corresponding feature density functions.
(FR)L'invention se rapport à un procédé et à un système permettant de déterminer une correspondance entre des ensembles de position. L'idée de base est de fournir un schéma dans lequel une correspondance entre deux ensembles de positions est déterminé. Ce procédé consiste à transformer un ensemble (X) de position de caractéristiques, comprenant un nombre (n + 1) de composants, en un vecteur de caractéristiques pouvant être utilisé dans un schéma de données auxiliaires (HDS: helper data scheme), et à créer à cette fin une fonction de densité de caractéristiques <i>(f </i><i>fS </i><i>(x))</i><i> </i>, puis à choisir un vecteur de caractéristique (XF) pour le schéma HDS en tant que version échantillonnée de la fonction de densité des caractéristiques <i>(f</i><i>X</i><i>,</i><i>g</i><i> (x) ), </i>, ce qui permet d'obtenir des vecteurs de caractéristiques présentant des dimensions égales et finies indépendamment du nombre (n + 1) de caractéristiques présentes dans le gabarit biométrique <i>X</i><i>T</i><i> </i> dont les ensembles de positions sont dérivées. L'étape suivante consiste à déterminer la distance (d) entre deux ensembles (X, Y) de positions de caractéristiques. La distance (d) entre les ensembles est choisie de manière à représenter la distance euclidienne entre les fonctions de densité de caractéristiques correspondantes.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)