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1. (WO2005119216) SYSTEMS AND METHODS FOR IN SITU SPECTROSCOPIC MEASUREMENTS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2005/119216    International Application No.:    PCT/US2005/018780
Publication Date: 15.12.2005 International Filing Date: 27.05.2005
IPC:
G01N 21/53 (2006.01), G01N 21/64 (2006.01), G01N 21/85 (2006.01), H01S 5/183 (2006.01)
Applicants: ENVISION INSTRUMENTS, LLC [US/US]; 1275 12th Avenue NW, Suite 6, Issaquah, WA 98027 (US) (For All Designated States Except US).
HARVARD, John, M. [US/US]; (US).
WILLIAMS, Paul, C. [US/US]; (US)
Inventors: HARVARD, John, M.; (US).
WILLIAMS, Paul, C.; (US)
Agent: VAN LOY, Michael; Skymoon Reasearch & Development, 3045 Park Boulevard, Palo Alto, CA 94306 (US)
Priority Data:
60/575,119 27.05.2004 US
10/856,885 27.05.2004 US
Title (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR IN SITU SPECTROSCOPIC MEASUREMENTS
(FR) SYSTEMES ET PROCEDES DE REALISATION DE MESURES SPECTROSCOPIQUES IN SITU
Abstract: front page image
(EN)A circularizated semiconductor laser diode (CSLD), such as for example a vertical cavity surface emitting laser (VCSEL) may be used for optical measurements. The CSLD may be used in a cell density probe to perform cell density determination and/or turbidity determination, such as in a biotech, fermentation, or other optical absorbance application. The cell density probe may comprise a probe tip section made from a polytetrafluoroethylene material, which provides sealability, ease of manufacture, durability, cleanability, optical semi-transparency at visible and near infrared wavelengths, and other advantages. The probe tip advantageously provides an optical gap that allows for in situ measurements of optical measurements including but not limited to absorbance, scattering, and fluorescence.
(FR)L'invention concerne une diode à laser à semiconducteur circularisée (CSLD), tel que, par exemple, un laser à cavité verticale et à émission par la surface (VCSEL), utilisable pour effectuer des mesures. La CSLD peut être utilisée dans une sonde de mesure de la densité des éléments pour mesurer la densité et/ou la turbidité des éléments, notamment dans une application biotechnique, de fermentation ou autre application d'absorbance. La sonde de mesure de la densité des éléments peut comprendre une section de pointe de la sonde constituée d'un matériau en polytétrafluoroéthylène, qui assure étanchéité, facilité de fabrication, durabilité, nettoyabilité, semi-transparence optique à des longueurs d'onde dans le visible et le proche infrarouge, et bien d'autres avantages. La pointe de la sonde présente avantageusement un écartement optique qui permet d'effectuer des mesures optiques in situ, y compris, mais pas exclusivement, des mesures de l'absorbance, de la diffusion, et de la fluorescence.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)